Occasion SHIMADZU SPM-9500J #9398388 à vendre en France

ID: 9398388
Scanning Electron Microscope (SEM).
SHIMADZU SPM-9500J est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) utilisé pour observer et mesurer la surface d'un échantillon. Il est conçu pour l'étude de précision d'une variété d'échantillons d'organismes vivants aux matériaux et aux dispositifs électroniques. SPM-9500J est un SEM d'émission de champ qui utilise une colonne électronique puissante pour produire des images à haute résolution de la surface de l'échantillon. La colonne d'électrons émet un faisceau d'électrons qui sont focalisés vers le bas à un endroit étroit. Comme les électrons interagissent avec l'échantillon, les électrons secondaires et rétrodiffusés sont produits. Ces électrons sont alors détectés et amplifiés pour la collecte de données. SHIMADZU SPM-9500J a une variété de caractéristiques qui le rendent idéal pour l'observation analytique. Il a une haute résolution jusqu'à 26.000x grossissement et un grand champ de vision jusqu'à 450x450µm, permettant l'observation des échantillons à l'échelle nanométrique. Le SEM peut être équipé d'une variété de détecteurs qui détectent divers signaux de spectre d'énergie, permettant l'analyse de l'énergie parallèle et l'imagerie chimique. Il dispose également d'un spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie intégrée, qui sert à recueillir des informations sur la composition de l'échantillon. Avec le détecteur EDX, les utilisateurs peuvent déterminer la présence de différents éléments ou mesurer l'épaisseur d'un film. SPM-9500J est également équipé de plusieurs fonctions automatisées qui permettent une collecte de données plus rapide et plus efficace. Les analystes peuvent utiliser la fonction automatisée Navigation et Focus pour se déplacer rapidement à l'emplacement souhaité dans le spécimen et focaliser le faisceau sur la zone appropriée. La fonction Recherche et mesure automatisées aide à identifier et mesurer les caractéristiques de surface. Avec cette fonction, les paramètres de surface peuvent être mesurés en une seule fois, améliorant la productivité et la précision. SHIMADZU SPM-9500J est un outil puissant pour l'analyse et la caractérisation d'une variété d'échantillons. Avec sa capacité à capturer des images à haute résolution, des fonctions automatisées et des systèmes de détection intégrés, le système est idéal pour observer et mesurer des nanostructures pour la recherche et des applications industrielles.
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