Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI 2050 #293646429 à vendre en France

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050 est un microscope électronique à balayage (SEM) de premier plan sur le marché. Il est conçu pour offrir d'excellentes capacités d'imagerie et d'analyse avec l'avantage supplémentaire d'une stabilité et d'une fiabilité supérieures du faisceau. SEIKO SMI 2050 est capable de fournir une imagerie topographique 3D de la surface d'un échantillon jusqu'au niveau atomique. Il peut être utilisé dans un large éventail d'applications, y compris des tâches de recherche et d'assurance de la qualité. SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050 est un système polyvalent et puissant équipé d'un logiciel d'imagerie et d'analyse de pointe. Il dispose d'un SPM automatisé (microscope à sonde à balayage) pour l'analyse de la topographie de surface, d'un CPD (différence de potentiel de contact) pour la détermination de la composition de l'échantillon, d'un EDS (spectroscopie dispersive d'énergie) pour l'analyse élémentaire et d'un SCH (microscope à capacité de balayage) pour les mesures nanoélectriques. En outre, SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-2050 est équipé d'une caméra numérique haute résolution et d'un étage d'échantillonnage de haute qualité pour assurer une bonne répétabilité et une bonne cohérence de mesure sur l'échantillon. SMI 2050 est capable d'imagerie et d'analyse de haute précision. Grâce à l'utilisation de fonctions d'imagerie avancées telles que 3D-SIMS (petit angle simultané et éclairage grand angle), le contraste de phase de Zernike et l'imagerie de champ lumineux, SII NANOTECHNOLOGY SMI 2050 est en mesure d'obtenir des images avec un niveau élevé de détail et de clarté. En outre, en raison de sa robustesse et de sa haute fonctionnalité, l'instrument a été utilisé pour diverses applications, de la recherche fondamentale aux tâches d'assurance de la qualité. Les performances et les caractéristiques de haute qualité de SEIKO SMI-2050 le rendent idéal pour une variété d'applications, telles que la science des matériaux, la nanoélectronique, la bio-technologie et les sciences médico-légales. Grâce à son détecteur avancé et à son système électronique performant, SMI-2050 est capable de capturer des images 3D haute résolution et contrastées et de générer des images 2D/3D de microstructures, particules et surfaces. Sa résolution en profondeur le rend également idéal pour inspecter des éléments micro-électriques et/ou métallurgiques complexes, tels que des puces semi-conductrices. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050 bénéficie également de ses capacités logicielles avancées. Sa suite d'images SEM comprend un logiciel d'analyse d'image avancée pour mesurer, quantifier et analyser les images de surface facilement, rapidement et avec précision. Il est facile à utiliser pour corréler plusieurs paramètres atomiques, tels que la concentration chimique, la granulométrie et les orientations cristallographiques dans un échantillon. SEIKO SMI 2050 est également conçu avec des caractéristiques de sécurité telles que le fonctionnement convivial et les caractéristiques de sécurité des instruments. Ses fonctions de sécurité comprennent le contrôle de l'accès des utilisateurs et des systèmes d'authentification à simple connexion pour chaque utilisateur. Dans l'ensemble, SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050 est un instrument puissant et polyvalent avec une gamme de fonctionnalités qui le rendent idéal pour un large éventail d'applications. Cette technologie de pointe permet aux chercheurs et aux professionnels de l'assurance qualité d'obtenir des informations sur les échantillons à l'échelle micro et nano, en bénéficiant de ses niveaux de précision, fiabilité et précision accrus.