Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI 2050 #9383422 à vendre en France

ID: 9383422
Focused Ion Beam (FIB) system.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui permet d'analyser la structure de surface des matériaux à micro et nano-échelle. Il est conçu pour fournir des images haute résolution de l'échantillon avec des détails de surface et de sous-surface. Le SEM est équipé d'un détecteur d'électrons haute performance et d'une optique supérieure pour assurer la capture d'image la plus précise et fiable. SEIKO SMI 2050 est un instrument multifonctionnel qui apporte des avantages spécifiques aux utilisateurs intéressés par l'étude des échantillons nanométriques. Il dispose d'une caméra haute résolution pour capturer des images dans les deux champs lumineux/sombre. La caméra est capable de collecter des images jusqu'à 4nm de résolution. En outre, SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050 est livré avec un équipement intégré de numérisation numérique à basse énergie dans la colonne et un système de refroidissement actif pour réduire la dérive thermique. SEIKO SMI-2050 est également livré avec une gamme de fonctions de contrôle des utilisateurs telles que le contrôle des courants d'émission des canons à émission de champ (FEG), le contrôle des biais d'échantillonnage et le contrôle des décalages d'image. Le SEM est également équipé d'un large éventail de fonctions automatisées d'alignement et de mesure des échantillons pour une analyse efficace. Ces fonctions comprennent l'analyse automatisée des particules, la reconnaissance de la forme, la mesure du contour et l'autofocus. SMI 2050 dispose également d'une unité d'isolation des vibrations, permettant à l'utilisateur de réduire les interférences acoustiques. Cela permet à l'utilisateur d'atteindre un niveau très élevé de précision d'imagerie et d'analyse. Le SEM est équipé d'un certain nombre de logiciels et d'outils graphiques, tels que CellSoft et 3D Viewer, qui sont conçus pour fournir à l'utilisateur des résultats d'imagerie et d'analyse précis et précis. Pour garantir des résultats de qualité, le SEM est équipé d'une gamme de dispositifs de sécurité incluant un arrêt d'urgence et la certification CE. La certification CE garantit un niveau élevé de sécurité pour les utilisateurs et garantit que SMI-2050 satisfait à toutes les exigences de sécurité applicables. Dans l'ensemble, SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-2050 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fournir aux utilisateurs des images haute résolution et des données fiables pour l'analyse nanométrique la plus avancée. Avec sa caméra haute résolution, sa machine de numérisation numérique intégrée, son outil de refroidissement actif, sa gamme de fonctions de contrôle des utilisateurs, ses fonctions automatisées d'alignement et de mesure des échantillons, son dispositif d'isolation des vibrations et ses nombreuses fonctions de sécurité, SII NANOTECHNOLOGY SMI 2050 est un outil puissant pour l'étude des structures nano-échelle.
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