Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI-3050 #9078488 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050 (SEM) est un instrument de pointe conçu spécifiquement pour les nanotechnologies. Il s'agit d'un SEM haute performance, relativement haute résolution avec une large gamme de fonctionnalités permettant l'imagerie avancée et l'analyse de matériaux nanométriques. SEIKO SMI-3050 est équipé de deux détecteurs d'électrons différents : un détecteur d'électrons secondaires (SE) et un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB). Le détecteur SE fournit des informations détaillées sur une surface d'échantillon, tandis que le détecteur ESB offre une analyse plus tridimensionnelle. En outre, SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050 est équipé d'un détecteur Everhart-Thornley qui fournit une cartographie de haute précision des courants de surface. SMI-3050 est capable d'imiter des objets jusqu'à une résolution de seulement 1 nanomètre. Il utilise un canon à émission de champ froid nouvellement conçu qui offre une stabilité exceptionnelle et un faible bruit pour des résultats d'imagerie spectaculaires. De plus, l'instrument offre une dérive et des vibrations extrêmement faibles pour une plus grande précision. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050 offre une combinaison unique de techniques d'imagerie avancées pour caractériser la topographie de surface et les nanostructures, y compris la cartographie des orientations cristallines, l'analyse des potentiels et des phases de surface et l'étude de la dynamique de la distribution des charges. SEIKO SMI-3050 offre également une gamme de techniques analytiques avancées, telles que la capacité de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX), la spectrométrie et l'analyse de billes. EDX peut être utilisé pour fournir une cartographie élémentaire de la composition locale des échantillons, une technique utile pour étudier les contaminants sur les échantillons. La spectrométrie permet d'analyser des caractéristiques telles que la taille et la composition des grains dans les échantillons, tandis que la fonction d'analyse des billes permet à l'utilisateur de quantifier la fréquence de résonance des particules. SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050 a une forte présence dans un certain nombre de domaines, tels que la science des matériaux, l'ingénierie des semi-conducteurs et la nanotechnologie. C'est un outil bien adapté pour les chercheurs qui s'intéressent aux matériaux scientifiques et techniques, tels que les métaux, les alliages, la céramique et les plastiques. Sa capacité à fournir une imagerie de résolution extrêmement fine et une gamme de techniques analytiques en font un instrument inestimable pour une variété d'applications de recherche.