Occasion SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #9257399 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage SII Nanotechnologie SII NANOTECHNOLOGIE/SEIKO XV-300DB est un instrument de recherche de pointe utilisé pour l'examen des particules microscopiques. Il s'agit d'un microscope électronique à balayage à pression variable (SEM), capable de fonctionner dans des environnements à vide élevé et à vide faible (moins de 10-4). Cela permet une plus grande gamme de caractéristiques des échantillons et la caractérisation chimique et physique des micro et nanoparticules. SEIKO XV-300DB utilise une combinaison de sources d'électrons telles que le canon à cathodoluminescence (CL), le canon à électrons rétrodiffuseurs (ESB) et le canon à électrons secondaire (SE). Le canon CL utilise un système achromatique qui permet une haute résolution spatiale ainsi qu'un contrôle autofocus. Le canon ESB utilise un détecteur électronique secondaire automatisé qui aide à obtenir un meilleur contraste d'imagerie. Le canon SE utilise une lentille électronique électrostatique qui fournit une imagerie haute résolution des surfaces de particules. Pour le contrôle du grossissement, SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB intègre une technique de zoom numérique avancée brevetée avec contrôle du doigt. Cela permet à l'utilisateur de zoomer sélectivement dans des domaines d'intérêt pour des points d'analyse plus fins. En outre, XV-300DB propose trois modes de fonctionnement : manuel, semi-automatique et entièrement automatique qui permettent une imagerie et une analyse efficaces et précises. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB offre des caractéristiques spéciales pour l'examen des spécimens. Des chambres d'échantillons plus larges permettent des échantillons plus lourds jusqu'à 500 grammes, et l'opération d'auto-nettoyage réactif permet un changement rapide d'échantillon. L'instrument permet également des techniques de préparation spécifiques à l'utilisateur telles que l'enrobage des pulvérisateurs, la métallisation et la polymérisation. SEIKO XV-300DB fournit une gamme de techniques d'imagerie spécialisées basées sur divers modes d'interaction : analyse de la composition des échantillons, imagerie souterraine en vrac, imagerie par ultrasons et mesures de surface. Il peut également être adapté pour une utilisation avec plusieurs détecteurs : microscopie thermique à balayage et détecteur de pointe de microscopie à force atomique pour l'analyse thermique et la détection de bord surélevé. En général, le SII NanotechnologiesSII NANOTECHNOLOGY XV-300DB en lisant l'électron rapidement est un aperçu fermé sur les microstructures de particule, en fournissant une façon précise d'examiner des objets de minute qui peuvent améliorer considérablement l'analyse de données et la caractérisation de promotion.