Occasion TESCAN Mira3 #9308067 à vendre en France

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ID: 9308067
Style Vintage: 2016
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM) Variable pressure field emission SEM High brightness schottky field emitter 4-lens electron optical design Detectors: Everhart-Thornley SE/BSE (ETD) Retractable BSE detector In-Beam BSE detector In-Beam SE detector Low Vacuum Secondary Electron Detector (LVSTD) Optics: Resolution at high-vacuum SE mode 1.2 nm: 30 kV 2.5 nm: 3 kV Resolution at high-vacuum In-Beam SE mode 1 nm: 30 kV Resolution in low-vacuum mode LVSTD 1.5 nm: 30 kV Resolution in beam deceleration mode: 1.5 nm: 3kV 2.5 nm: 200V Maximum field of view: 100 mm 20 mm: 30 mm WD EDX: BRUKER NANO QUANTAX 400 Energy Dispersive X-ray spectrometer Dual 60 mm² XFlash detectors Resolution: 126 eV Mn Kα, 60 eV F Kα, 51 eV C Kα Element detection range: Beryllium (4) to americium (95) Raman: WITEC RISE laser confocal microscope system Laser: Excitation wavelength: 532 nm, 75mW 2016 vintage.
TESCAN Mira3 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (SEM) conçu pour l'observation de spécimens biologiques et géologiques et d'autres matériaux dans divers domaines. Le microscope est basé sur le système EMmi Electron Field Emission System (FEG) propriétaire de TESCAN, qui fournit une excellente résolution et des images de contraste qui le rend bien adapté à une variété d'applications. Mira3 combine la stabilité et la puissance d'un microscope électronique à transmission classique et d'un microscope électronique à balayage. Il en résulte un instrument capable de délivrer des résolutions jusqu'à 5 nm, ainsi que des images haute définition à très forte dynamique pouvant être utilisées dans l'étude de la microstructure des matériaux. TESCAN Mira3 peut également offrir une grande polyvalence, car des échantillons peuvent être observés dans les deux modes d'imagerie SE (électrons secondaires) et ESB (électrons rétrodiffusés). Avec une plage de tension d'accélération de 1 kV à 30 kV et un courant de faisceau d'électrons de 0,5 nA à 10 nA, Mira3 convient à une large gamme de besoins d'échantillons. La chambre d'échantillonnage du microscope est basée sur le porte-tesselloplane TESCAN innovant protégé par brevet. Ce support assure la stabilité de l'échantillon même en travaillant sous tension accélérée jusqu'à 30 kV, tout en faisant la manipulation de l'échantillon et l'échange de l'échantillon une brise. Le microscope comporte également un canon à ions en colonne pour le post-traitement, qui permet la gravure des caractéristiques, et le dépôt de revêtements conducteurs. En outre, TESCAN Mira3 est équipé d'une nouvelle architecture de caractérisation des échantillons pour la mesure de paramètres pertinents tels que la conductivité, le profilage de profondeur SIMS, l'analyse élémentaire SEM et la mesure de la température de la chambre. En ce qui concerne le fonctionnement et la convivialité, Mira3 dispose d'un logiciel intuitif basé sur Windows qui offre divers outils modulaires pour faciliter la préparation et l'analyse des échantillons. Ce logiciel comprend des fonctionnalités telles que le piquage automatique d'images, la navigation automatisée et divers plugins conçus pour permettre un fonctionnement synergique avec d'autres instruments d'analyse, y compris EDX basé sur SEM. En résumé, TESCAN Mira3 fournit aux chercheurs et aux techniciens un large éventail de techniques analytiques et un niveau impressionnant de résolution, ce qui en fait un outil puissant et utile pour de nombreuses applications dans les domaines des sciences de la vie, de la science des matériaux, des essais environnementaux, de la recherche sur les semi-conducteurs et les métaux.
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