Occasion TESCAN Vega II #293647242 à vendre en France
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ID: 293647242
Scanning Electron Microscope (SEM)
XLU
SED
BSED
Low vacuum option
In chamber SSD camera.
TESCAN Vega II est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse d'une large gamme de topographie de surface, de composition et de propriétés de surface. Il est équipé d'un double détecteur de détection permettant de collecter simultanément des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés, permettant d'effectuer une gamme de caractérisations tant qualitatives que quantitatives. Ses capacités d'imagerie haute résolution permettent aux utilisateurs d'obtenir un aperçu détaillé de leurs échantillons. Il dispose d'un détecteur ESEM (Environmental SEM), qui augmente la flexibilité du SEM, permettant l'analyse d'échantillons affûtés, non endommagés et hydratés dans les conditions atmosphériques. TESCAN VEGA-II a une source d'électrons à filament de tungstène, offrant jusqu'à 15kV de tension d'accélération. Il dispose d'un processeur d'image d'émission de terrain 3-Dimensional qui permet l'imagerie haute définition et la résolution de plus petites fonctionnalités. Son logiciel convivial et intuitif simplifie l'opération, tout en offrant un large éventail d'outils d'analyse d'image. Vega II dispose également d'une scène automatisée et d'une focalisation motorisée qui permet aux utilisateurs de se déplacer facilement et d'ajuster leurs échantillons lors de l'imagerie. En outre, le système intégré de nanoprobre augmente l'accessibilité, ce qui facilite grandement la mesure précise des caractéristiques des échantillons. Dans l'ensemble, VEGA-II est un outil d'imagerie analytique puissant et fiable. Ses caractéristiques de pointe et sa conception conviviale en font un choix idéal pour les chercheurs et les ingénieurs qui cherchent à avoir un aperçu de la structure, de la composition et des propriétés de surface de leurs échantillons.
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