Occasion THERMO FISHER SCIENTIFIC / FEI Nova NanoSEM 430 #293799505 à vendre en France

ID: 293799505
Style Vintage: 2009
Scanning Electron Microscope (SEM) Power rack Operating system: Windows XP Right side panel missing 2009 vintage.
THERMO FISHER SCIENTIFIC/FEI Nova Nov SEM 430 est un microscope électronique à balayage de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une large gamme d'échantillons dans diverses applications scientifiques et industrielles. Cet instrument de pointe combine une technologie innovante et des performances exceptionnelles pour offrir une imagerie de haute qualité, une analyse élémentaire et une caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique. Le FEI Nova NOF SEM 430 est une source d'électrons d'émission de champ capable de délivrer des courants de faisceau élevés, permettant une imagerie rapide et à haute résolution des échantillons avec un contraste et une clarté supérieurs. Cet instrument offre une grande flexibilité dans les modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et la spectroscopie X à dispersion d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. L'équipement est équipé d'une variété de détecteurs, y compris des détecteurs Everhart-Thornley, des détecteurs dans les colonnes et un détecteur EDS à l'état solide, ce qui permet aux utilisateurs d'obtenir des informations complètes sur l'échantillon étudié. L'un des points forts de THERMO FISHER SCIENTIFIC Nova Nand SEM 430 est sa résolution d'imagerie exceptionnelle, avec une capacité à résoudre des caractéristiques aussi petites que quelques nanomètres. Cette haute résolution est obtenue grâce à la conception avancée de l'optique électronique et des algorithmes d'imagerie sophistiqués, assurant l'imagerie détaillée des échantillons même les plus difficiles. L'instrument offre également un vaste champ de vision, permettant aux utilisateurs de capturer des images de vastes zones d'échantillonnage avec une grande précision et efficacité. En plus des capacités d'imagerie, Nova NconceptuSEM 430 excelle dans l'analyse élémentaire par EDS. Le système intègre un détecteur EDS avancé qui peut générer efficacement des cartes élémentaires et des spectres, permettant l'identification et la quantification précises des éléments dans l'échantillon. Cette caractéristique est particulièrement utile pour la science des matériaux, la géologie, les sciences de la vie et d'autres domaines de recherche nécessitant une caractérisation élémentaire et une analyse chimique. L'interface conviviale de l'instrument et son logiciel intuitif facilitent le fonctionnement et l'interprétation des données. THERMO FISHER SCIENTIFIC/FEI Nova Nand SEM 430 propose plusieurs modes d'imagerie et d'analyse qui peuvent être facilement personnalisés pour répondre aux exigences spécifiques de l'expérience. Le logiciel comprend également des fonctionnalités avancées telles que les routines d'imagerie automatisées, le piquage d'images, la reconstruction 3D et des outils de traitement de données pour l'analyse approfondie des données acquises. De plus, le FEI Nova NhouseSEM 430 est équipé d'un étage avancé qui permet un positionnement et une manipulation précis des échantillons lors de l'imagerie et de l'analyse. L'étape motorisée permet aux utilisateurs de scanner de grandes zones d'échantillonnage, d'acquérir plusieurs images et d'effectuer une collecte automatisée de données avec une reproductibilité et une précision élevées. Dans l'ensemble, THERMO FISHER SCIENTIFIC Nova NPENDANT 430 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse de pointe pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Avec sa résolution exceptionnelle, sa machine EDS avancée et son interface conviviale, cet instrument est idéal pour les chercheurs, les ingénieurs et les analystes qui cherchent à explorer le nanoworld et à décrypter les subtilités des matériaux aux niveaux atomique et moléculaire.
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