Occasion THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Verios G4 #293800547 à vendre en France

FEI, en collaboration avec PHILIPS et THERMO FISHER SCIENTIFIC, a introduit THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4 Scanning Electron Microscope (SEM) qui représente les dernières avancées en matière de capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution. FEI Verios G4 est conçu pour fournir aux chercheurs un outil puissant pour étudier les structures et les matériaux à l'échelle nanométrique avec une clarté et une précision exceptionnelles. Une des caractéristiques clés de PHILIPS Verios G4 SEM est ses capacités d'ultra haute résolution, offrant une imagerie sous-nanométrique et des performances analytiques. Ceci est rendu possible par l'incorporation d'une source d'électrons FEG (Field Emission Gun), qui délivre des faisceaux d'électrons fortement focalisés avec une luminosité et une stabilité supérieures. Verios G4 est capable de produire des images avec des détails et des contrastes exceptionnels, permettant aux chercheurs de visualiser et d'analyser des échantillons à l'échelle atomique. THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4 est équipé de systèmes de détection avancés qui permettent une gamme de techniques d'imagerie et d'analyse. Il dispose d'un détecteur Everhart-Thornley (ETD) polyvalent pour l'imagerie signal-bruit élevée, ainsi que d'un détecteur d'électrons secondaires en faisceau (IB-SE) pour l'imagerie sensible à la surface. En outre, THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4 offre des options pour la spectroscopie par rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) pour l'analyse élémentaire et la caractérisation cristallographique des échantillons. En termes de performance, FEI Verios G4 SEM est optimisé pour un débit et une productivité élevés. Il dispose d'un système de balayage rapide qui permet l'acquisition rapide d'images et la cartographie de grandes zones d'échantillonnage avec une intervention minimale de l'utilisateur. Le SEM intègre également des logiciels sophistiqués d'automatisation et de traitement d'images, ce qui permet de rationaliser les flux de travail pour l'analyse et l'interprétation des données. PHILIPS Verios G4 est conçu avec des contrôles conviviaux et des interfaces logicielles intuitives qui facilitent le fonctionnement et l'expérimentation. Le système est équipé d'une gamme de modes d'imagerie, tels que l'imagerie haute résolution, l'imagerie basse tension et l'imagerie par décélération du faisceau, pour répondre à divers types d'échantillons et exigences analytiques. Le SEM offre également des outils avancés de traitement d'image pour l'amélioration, la quantification et la reconstruction 3D. Verios G4 SEM est un instrument robuste et fiable conçu pour la recherche et les applications industrielles dans des domaines tels que la science des matériaux, les sciences de la vie, la nanotechnologie et la technologie des semi-conducteurs. Ses capacités de haute performance le rendent bien adapté à l'étude d'un large éventail d'échantillons, y compris des nanoparticules, des polymères, des échantillons biologiques et des dispositifs semi-conducteurs. En conclusion, THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4 Scanning Electron Microscope représente une plate-forme de pointe pour l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique. Avec ses capacités d'imagerie ultra haute résolution, ses systèmes de détection polyvalents et son interface conviviale, THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4 offre aux chercheurs un outil puissant pour explorer le monde microscopique avec une clarté et des détails sans précédent.