Occasion TOPCON ABT-32 #9259781 à vendre en France

TOPCON ABT-32 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour un large éventail d'utilisations dans la science des matériaux et le contrôle de la qualité. Il dispose d'un détecteur d'électrons secondaires avancés (SE) avec des rapports signal-bruit supérieurs et des capacités d'imagerie haute résolution. Sa conception permet une analyse précise des couches minces et des géométries de niveau submicronique. ABT-32 se compose d'une source d'électrons de forte puissance, d'une colonne d'imagerie, d'un microprocesseur, d'un porte-échantillon et d'un réseau de détecteurs. Sa source d'électrons peut fournir une gamme d'énergies, de 1 à 15 kilo-volts d'électrons (keV). Sa colonne d'imagerie dispose d'un système réglable de grossissement-champ de vision (MFOV) qui permet jusqu'à 260x grossissement, vous permettant de vous concentrer sur des détails aussi petits que 20nm. Grâce à son équilibre Z en colonne spécialement conçu, l'utilisateur peut ajuster rapidement la stabilité et la vitesse d'analyse. Le microprocesseur est capable d'analyser des images 16 bits jusqu'à 10 images par seconde, ce qui permet d'analyser à grande vitesse même les échantillons les plus grands et les plus détaillés. Son porte-échantillon peut accueillir toute une gamme de tailles et de matériaux. Et ses détecteurs facilitent l'identification de particules plus petites et la collecte de détails fins. Il dispose de détecteurs SE pour l'analyse précise de couches minces et de géométries sub-microns, ainsi que de détecteurs secondaires et rétrodiffuseurs pour la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et la cartographie des rayons X. Les fonctionnalités avancées de TOPCON ABT-32 permettent l'imagerie détaillée de divers matériaux. Sa procédure de balayage efficace le rend idéal pour l'analyse détaillée des couches minces et des géométries submicroniques, garantissant le plus haut niveau de précision disponible. Avec ses différents détecteurs et son porte-échantillon pratique, ABT-32 est l'outil parfait pour toute application de science des matériaux et de contrôle de la qualité.