Occasion TOPCON DS 720 #9407852 à vendre en France

TOPCON DS 720 est un microscope électronique à balayage (SEM), qui fournit une imagerie et une analyse à haute résolution de divers matériaux échantillons. Cet instrument est bien adapté à une variété de tâches analytiques, allant de l'imagerie nano-échelle à l'analyse métallurgique de surface. DS 720 utilise une source d'électrons d'émission de champ de Schottky (FEI) pour permettre l'imagerie à haute résolution de matériaux échantillons. Cette source d'électrons est exceptionnellement stable et uniforme, ce qui permet d'améliorer les rapports signal à bruit dans les images enregistrées. En outre, TOPCON DS 720 dispose d'une chambre d'imagerie à pression variable, qui permet d'appliquer une gamme de pressions aux échantillons. Ce système à pression variable permet l'imagerie dans un certain nombre de conditions atmosphériques différentes, selon le type d'échantillon à imager. En outre, le canon d'émission de champ de cet instrument comprend une température active et des systèmes de stabilisation du courant d'émission, ce qui contribue à réduire davantage le bruit d'imagerie. DS 720 offre une gamme extrêmement large de réglages de grossissement, avec un maximum de 20,480x. Cela offre une grande souplesse lors de l'analyse. Cette colonne guidée par champ électrique et magnétique est pilotée par une série de systèmes de commande en boucle fermée, permettant une précision lors du changement de réglage. En outre, la colonne est très efficace dans un large éventail de réglages, avec un miroir optimisé pour les grossissements de milieu de gamme. En outre, cet équipement est équipé d'un détecteur STEM, conçu pour l'imagerie à l'échelle du nanomètre. Cet instrument est également capable de diverses techniques d'analyse élémentaire, telles que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et la spectroscopie électronique Auger (STEM-AES). Grâce à ces outils, les utilisateurs peuvent analyser rapidement et avec précision leurs matériaux d'échantillonnage pour la composition et la structure élémentaires. TOPCON DS 720 fournit aux utilisateurs un équipement extrêmement capable pour diverses tâches d'analyse et d'imagerie. Les systèmes de contrôle avancés et les systèmes d'imagerie permettent une analyse et une imagerie détaillées des matériaux à des résolutions nanométriques. Diverses techniques d'analyse élémentaire peuvent également être utilisées avec cet outil, ce qui élargit encore ses capacités d'analyse. DS 720 est un excellent choix pour la recherche et les applications industrielles.