Occasion TOPCON MI-3080 #293610473 à vendre en France
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ID: 293610473
Taille de la plaquette: 6"
CD Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 6"
Missing parts.
Le microscope électronique à balayage TOPCON MI-3080 (SEM) est un instrument puissant utilisé pour la microscopie et l'analyse d'objets à l'échelle du nanomètre. Avec sa capacité d'imagerie numérique haute résolution et ses capacités avancées pour la recherche sur les matériaux, MI-3080 est un outil puissant pour les scientifiques et les ingénieurs dans une grande variété de domaines. TOPCON MI-3080 dispose d'une lentille de champ grand angle qui permet une imagerie macro rapide des échantillons. Il est également capable de capturer des images à l'échelle nanométrique, ce qui le rend idéal pour la caractérisation détaillée de petites particules et de structures fines. MI-3080 utilise un filtre d'énergie pour contrôler l'énergie des électrons et optimiser la résolution de l'image. Le SEM a une efficacité de détection de près de 100 partenaires, ce qui est essentiel pour des résultats précis et reproductibles. TOPCON MI-3080 possède également un large éventail de fonctionnalités logicielles, y compris un processeur d'image intégré et un logiciel d'acquisition. Cela permet de recueillir, d'analyser et de partager les données rapidement et facilement. De plus, MI-3080 peut contrôler la température et l'humidité, permettant une analyse biologique des échantillons sensibles. Le cœur de TOPCON MI-3080 est une lentille magnétique à balayage redessiné et un système d'imagerie numérique avancé. Cela permet un agrandissement 40 fois plus important, un agrandissement numérique puissant et un agrandissement allant jusqu'à 30,000X. C'est idéal pour les chercheurs qui doivent examiner leurs échantillons en détail. MI-3080 offre également une gamme de détecteurs d'électrons, tels que l'analyseur inductif Schottky ultra haute résolution, qui permettent une analyse chimique précise. TOPCON MI-3080 fournit une excellente résolution d'image et est capable de produire des images entièrement développées avec une résolution jusqu'à 1.0nm. Son système avancé de refroidissement et de filtrage garantit également que l'image capturée est aussi claire et précise que possible. En outre, MI-3080 offre également une acquisition de données à haut débit qui contribue à réduire le temps nécessaire à la préparation et à l'analyse des échantillons. Dans l'ensemble, TOPCON MI-3080 est un instrument avancé et fiable capable de produire des images détaillées et à haute résolution de petits échantillons. Il offre un moyen pratique et efficace d'analyser et d'interpréter les propriétés structurelles et matérielles des échantillons à l'échelle du nanomètre, ce qui en fait un outil inestimable pour les chercheurs dans divers domaines.
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