Occasion TOPCON MI-3080 #9150383 à vendre en France

TOPCON MI-3080 est un microscope électronique à balayage multi-modes (SEM) conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une large gamme de matériaux d'échantillons. Cet instrument de pointe dispose à la fois de la microscopie électronique à balayage à faible et à haut vide (SEM) en plus de la SEM environnementale à basse tension (E-SEM). L'électronique numérique intégrée le rend très polyvalent et adapté à une gamme variée d'applications allant de l'imagerie de base à une variété d'analyses 3D complexes. L'équipement dispose d'un système d'imagerie numérique qui permet une imagerie haute définition avec une résolution allant jusqu'à 2 nanomètres et une profondeur de focalisation impressionnante de 0,8 nm. La conception flexible de MI-3080 et l'étage avancé de type soufflet permettent une imagerie lisse des spécimens jusqu'à une taille de 300 mm x 290 mm. En outre, l'unité a été conçue pour être conviviale, de sorte que même les utilisateurs novices peuvent être en place et fonctionner rapidement. Pour une analyse avancée, TOPCON MI-3080 est équipé d'une large gamme de fonctionnalités. L'instrument comprend la détection d'électrons de rétrodiffusion (ESB) avec des capacités d'imagerie à moyenne et basse tension. Il est également livré avec une gamme de techniques d'imagerie telles que BSED en mode basse tension, SE rétrodiffusion en mode moyenne tension, et GADSEI (Gaseous Detector Secondary Electron Imaging) à basse et moyenne tension. Pour l'analyse élémentaire, MI-3080 est équipé d'une gamme de détecteurs, y compris une machine à rayons X dispersifs d'énergie (EDS) avec résolution de spectre 4K et un outil à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDS) pour la cartographie élémentaire à haute résolution. Ces détections peuvent être utilisées pour effectuer diverses analyses élémentaires telles que l'analyse de phase, la cartographie de la composition et l'imagerie granulométrique. En outre, l'instrument est compatible avec plusieurs accessoires, dont un détecteur de particules chargées pour l'analyse des colonnes d'ions et d'électrons et une gamme d'outils logiciels supplémentaires. Cela offre une fonctionnalité supérieure pour une large gamme d'analyses 3D, telles que FIB-SEM analytique (Focus Ion Beam - Scanning Electron Microscopy), EBSD (Electron Backscatter Diffraction) et impression 3D. Dans l'ensemble, TOPCON MI-3080 est un SEM multimode avancé conçu pour permettre l'imagerie haute résolution et l'analyse d'un large éventail de matériaux de spécimen. Les fonctionnalités d'imagerie complètes, la conception polyvalente des actifs et les capacités d'analyse avancées le rendent idéal pour un large éventail d'applications.