Occasion TOPCON SM 300 #9220578 à vendre en France

TOPCON SM 300 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir une imagerie supérieure avec une précision exceptionnelle. Il utilise l'optique électronique et les technologies des étages de balayage pour produire des images à haute résolution de petits objets avec une clarté remarquable. SM 300 offre une large gamme de grossissements pour l'imagerie, à partir de 5x et s'étendant jusqu'à un maximum de 300.000x. Il est capable de produire des images avec une profondeur de champ très précise, détaillant les caractéristiques avec une résolution nanométrique. Cette caractéristique le rend capable d'imagerie au niveau atomique, permettant un examen et une analyse détaillés d'un large éventail de matériaux. Le canon à électrons utilisé par TOPCON SM 300 est filtré à l'énergie, permettant aux chercheurs de manipuler l'énergie du faisceau d'électrons pour produire des images de meilleure qualité. Cette caractéristique peut être utilisée pour acquérir des niveaux de détail plus élevés, ce qui permet d'examiner des caractéristiques à petite échelle telles que les microstructures de surface et les limites des grains. SM 300 utilise un détecteur très sensible capable de détecter des particules aussi petites que 10 à 100 picomètres. Cela permet aux chercheurs de distinguer les caractéristiques avec une très grande précision et d'acquérir des informations quantitatives sur leur échantillon. L'unité dispose également d'un mécanisme automatisé de traitement d'image, permettant aux chercheurs d'évaluer rapidement et avec précision les données obtenues du scanner. L'unité est également équipée d'un étage haute résolution qui permet le balayage circulaire des échantillons, permettant l'acquisition de grandes images en peu de temps. TOPCON SM 300 est également capable de cartographier de très petites caractéristiques dans une vaste zone d'échantillonnage, élargissant son utilisation à des études multidimensionnelles. Il est équipé d'un puissant système automatisé d'analyse des données, permettant aux chercheurs d'effectuer rapidement leur analyse et évaluation de l'échantillon. Les détails obtenus à partir de SM 300 peuvent être utilisés pour évaluer la morphologie, la composition et la structure des échantillons avec une grande précision. En outre, il peut être utilisé dans l'étude des matériaux nanométriques, et la recherche de nouvelles propriétés des matériaux dans divers domaines.