Occasion ZEISS Auriga 40 #293774090 à vendre en France

ID: 293774090
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Single GIS Charge Compensator Plasma Cleaner Nanomanipulator Detectors: STEM SESI InLens SE EsB.
ZEISS Auriga 40 est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) conçu et fabriqué par ZEISS, un leader renommé dans les solutions de microscopie. Auriga 40 est un instrument polyvalent et performant qui offre des capacités d'imagerie avancées pour un large éventail d'applications dans la recherche et l'industrie. Au cœur de ZEISS Auriga 40 se trouve sa source innovante d'électrons d'émission de champ, qui fournit un faisceau d'électrons hautement cohérent avec une excellente luminosité et stabilité. Cela permet une imagerie haute résolution avec un contraste supérieur et une dérive minimale du faisceau, ce qui le rend idéal pour l'imagerie d'échantillons avec des détails complexes et des structures fines. L'une des principales caractéristiques de l'Auriga 40 est ses capacités de balayage avancées, qui comprennent le balayage à grande vitesse et le contrôle précis du faisceau d'électrons. Cela permet aux utilisateurs d'acquérir des images rapidement et avec précision, permettant la visualisation détaillée des échantillons à l'échelle nanométrique. ZEISS Auriga 40 offre également une gamme de modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie électronique rétrodiffusée et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), qui fournissent des informations précieuses sur la composition et la morphologie des échantillons. En plus de ses capacités d'imagerie, Auriga 40 est équipé d'une interface logicielle polyvalente et conviviale qui permet de contrôler et de personnaliser facilement les paramètres d'imagerie. Le logiciel fournit également des outils avancés de traitement d'images pour l'analyse et la mesure des données acquises, permettant aux chercheurs d'extraire des informations précieuses de leurs échantillons. ZEISS Auriga 40 dispose d'un étage de spécimen haute performance avec de multiples axes de mouvement, permettant un positionnement précis et la manipulation des échantillons pendant l'imagerie. Ceci est particulièrement utile pour étudier des échantillons à géométries complexes ou pour mener des expériences in situ où une manipulation d'échantillon en temps réel est nécessaire. Un autre avantage majeur de l'Auriga 40 est sa compatibilité avec un large éventail de types d'échantillons, y compris les matériaux conducteurs et non conducteurs. Cette flexibilité permet aux utilisateurs d'imiter une variété d'échantillons sans avoir besoin de techniques spéciales de préparation d'échantillons, faisant de ZEISS Auriga 40 un outil polyvalent pour un large éventail d'applications. En outre, Auriga 40 est conçu avec la commodité et la sécurité de l'utilisateur, avec une gamme de fonctions automatisées et de protocoles de sécurité pour assurer une performance optimale et la protection des utilisateurs et des échantillons. L'instrument est également soutenu par ZEISS réseau de service et de support renommé, fournissant aux clients une assistance et une maintenance fiables pour assurer la fonctionnalité à long terme de ZEISS Auriga 40. En conclusion, Auriga 40 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre des capacités d'imagerie exceptionnelles, des options de balayage avancées, une interface logicielle conviviale, une compatibilité polyvalente des échantillons et des performances fiables. Utilisé pour la recherche académique, le contrôle de la qualité industrielle ou l'analyse des matériaux, le ZEISS Auriga 40 est un outil puissant qui peut fournir des informations précieuses sur le micro et nano-monde avec une clarté et des détails sans précédent.
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