Occasion ZEISS Auriga #9067317 à vendre en France
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Vendu
ID: 9067317
Style Vintage: 2011
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM)
GEMINI Optik with 0.1-30 kV Emission voltage
Resolution: Approximate 1.9 nm at 1 kV
In-lens secondary electron detector
Chamber secondary electron detector
Energy selective back scatter electron detector (ESB)
(2) Internal infrared CCD cameras
Cobra FIB pillar with low voltage option
Floodgate: 80 mm
BRUKER Quantax 800 EDX System
ZEISS STEM Detector retractable
KLEINDIEK Micro manipulator system
Includes:
Gas injection system (Platinum, carbon)
OXFORD INSTRUMENTS XMAX 51-XMX0085 Electron beam, 31"
Electron beam
Iron beam (FIB)
Pumps
TEM Detector
Secondary electron detector
Load locker
Vacuum pump
Chiller
(3) HEWLETT-PACKARD COMPAQ LA1951g Computer screens
KLEINDIEK Nanotechnik needle system
ZEISS Controller
ZEISS Keyboard / Controller
Anti vibration table
Auxiliary chiller
Vacuum pump
Computer
(2) Screen joysticks
Transportation-locks
Accessories
CE Marked
Power supply: 230 V, 50/60 Hz
2011 vintage.
ZEISS Auriga est un microscope électronique à balayage (SEM) capable d'imagerie haute résolution, de composition élémentaire et d'analyse de surface pour un large éventail de matériaux. Auriga est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire breveté, offrant un angle d'acceptation élevé, couplé à son grand rapport signal sur bruit, pour une imagerie atomique et nanoscopique supérieure. Il peut générer des images d'électrons allant jusqu'à 1,3 nanomètres (nm). Les caractéristiques d'imagerie de ZEISS Auriga se traduisent par un excellent contraste et un niveau de détail inégalé. Auriga est également équipé d'un détecteur EDX Oxford Instruments capable d'effectuer des analyses élémentaires. Cela peut être utilisé pour recueillir des données sur la composition des matériaux pour diverses applications. Les capacités EDX de ZEISS Auriga sont encore renforcées par son logiciel EDXMA (Energy Dispersive X-ray Microanalysis), qui permet aux utilisateurs de traiter et d'analyser leurs données avec des fonctionnalités avancées. En termes d'analyse de surface, Auriga est équipé d'un AFM in situ. Cela permet de cartographier topographiquement divers matériaux et de caractériser la rugosité de surface, la taille des particules et les propriétés mécaniques. La haute résolution de cet outil permet également l'analyse de nanostructures, telles que les points quantiques. Dans l'ensemble, ZEISS Auriga est un SEM exceptionnel, offrant des capacités d'imagerie haute résolution, de composition élémentaire et d'analyse de surface, qui peuvent tous être utilisés pour une variété de matériaux. La flexibilité de cet outil permet une large gamme d'applications, ce qui en fait un excellent choix pour n'importe quel laboratoire.
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