Occasion ZEISS Crossbeam 1540 EsB #9314992 à vendre en France

ZEISS Crossbeam 1540 EsB Scanning Electron Microscope (SEM) est une plate-forme haute performance conçue pour la recherche, les applications industrielles et les sciences de la vie. Il est équipé d'un boîtier de détection comprenant un déflecteur double axe et un détecteur d'électrons secondaire pour l'imagerie à très haute résolution. De plus, l'équipement est intégré à la préparation et à la navigation automatisée des échantillons, ainsi qu'à un système d'imagerie et d'analyse par faisceau électronique contrôlé par le logiciel intégré ZEISS WorkSpace. Le SEM a une plage de tension de 0-30 kV et une tension d'accélération jusqu'à 15kV, permettant l'imagerie d'échantillons jusqu'à 500 μ m d'épaisseur. La chambre d'échantillonnage est capable de maintenir jusqu'à 200 kg de poids et est livré avec des caractéristiques telles que la pression automatique et programmable, cryo-préparation et pompes à vide. L'unité de détection comprend l'imagerie haute résolution, l'imagerie filtrée par l'énergie, l'imagerie électronique rétrodiffusée et l'EDS (Energy Dispersive Spectroscopy). L'optique électronique est équipée de trois bobines de déflexion, offrant jusqu'à 6 nm de résolution en mode électron secondaire et jusqu'à 0,7 nm de résolution en mode STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy). Crossbeam 1540 EsB SEM possède des caractéristiques de navigation et de manipulation d'échantillons telles que le transport automatisé de diapositives, l'étape d'échantillonnage de 3 axes, l'étape d'échantillonnage de 6 axes et un manipulateur d'échantillons de table. La machine de navigation est très efficace, avec une interface utilisateur avancée permettant l'alignement manuel des échantillons, la navigation et le focus. Le SEM est également livré avec une gamme complète d'options d'automatisation telles que la recherche automatique d'échantillons, l'alignement et les capacités d'analyse/reporting, permettant un débit d'échantillons élevé. Pour plus de commodité, le microscope possède des caractéristiques intégrées telles qu'une analyse automatique de la taille et de la morphologie des particules, un chargement et un déchargement automatisés des échantillons et un scanner de pression à faisceau d'électrons motorisé à double axe. De plus, le SEM comprend des charges d'étape allant jusqu'à 200 kg et un ensemble robuste d'outils de déclaration de données et d'analyse statistique, permettant d'obtenir des résultats fiables et cohérents. ZEISS Crossbeam 1540 EsB SEM est un outil polyvalent et puissant pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail d'échantillons. Il fournit aux chercheurs et aux scientifiques industriels des capacités d'imagerie et d'analyse avancées, permettant une analyse d'échantillons très précise et complète. Avec sa résolution, sa vitesse et ses capacités à haut débit, l'outil offre une plateforme efficace et conviviale pour une gamme d'applications.