Occasion ZEISS EM 109 #293592393 à vendre en France

ID: 293592393
Transmission Electron Microscope (TEM) Wavelength of visible light: 380-750 nm Electron beams Shorter wavelength than visible light Copper grids Contrasted with heavy metal salts Digital camera: Black and white.
ZEISS EM 109 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir une imagerie d'échantillon supérieure dans une variété d'applications. Il dispose d'un équipement d'imagerie haute résolution à faible bruit avec une gamme complète de capacités d'imagerie et d'analyse. EM 109 est équipé d'une résolution standard au microscope de 5 nm, ainsi que d'une résolution facultative de 3 nm. Le système est capable de générer des images tridimensionnelles d'échantillons d'une épaisseur pouvant atteindre 500 microns. ZEISS EM 109 dispose d'une unité informatique robuste avec une machine d'exploitation Windows 10, une vanne à vide active et une autotunation numérique haute tension en option pour le fonctionnement des échantillons. Il utilise également une gamme d'opérations d'analyse automatisées telles que l'imagerie standard à champ plat, à champ sombre et différentielle, ainsi que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour identifier les composants de l'échantillon. En outre, l'instrument est équipé d'une chambre d'imagerie à basse dépression en option pour la collecte d'échantillons ou pour l'imagerie en basse dépression. L'EM 109 est en outre équipé d'un faisceau équilibré pour réduire les distorsions d'imagerie résultant de la charge des échantillons, ainsi que d'une chambre basse dépression en option et d'étages d'inclinaison semi-automatisés pour le balayage des échantillons en mode réfléchissant et en mode d'ombre. Il est également capable de générer des tomogrammes 3D, ou tranches de l'échantillon, pour fournir aux utilisateurs une visualisation plus détaillée de leur échantillon. En outre, la microscopie est livrée avec une variété d'accessoires, tels que des scintillateurs et des systèmes optiques, pour personnaliser la qualité et la performance de l'image. En bref, ZEISS EM 109 est un actif avancé de microscope électronique à balayage conçu pour fournir une imagerie d'échantillon supérieure dans une variété d'applications. Il propose une imagerie haute résolution, des opérations d'analyse automatisées, un modèle de faisceau équilibré, des tomogrammes 3D, ainsi que des accessoires pour personnaliser la qualité et la performance de l'image.
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