Occasion ZEISS EM 109 #293610285 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage ZEISS EM 109 (SEM) est un instrument d'analyse performant qui permet une imagerie tridimensionnelle haute résolution de la morphologie de surface et de la nanostructure d'un large éventail de matériaux. Il a une grande chambre qui peut accueillir jusqu'à un échantillon de vingt-cinq millimètres de diamètre et est capable d'agrandir un échantillon jusqu'à 400 000 fois sa taille d'origine. Le SEM dispose de détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffuseurs pour détecter diverses caractéristiques de l'échantillon, ainsi que d'un détecteur de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) pour détecter la composition élémentaire de l'échantillon dans le volume environnant. EM 109 SEM est équipé d'un système à vide élevé pour minimiser les interactions entre l'échantillon et l'environnement, permettant l'acquisition d'images précises. Son imagerie haute résolution et sa capacité à détecter la structure et la composition élémentaire en font un outil idéal pour analyser les caractéristiques microscopiques de surface et la nanostructure. Avec la capacité d'atteindre des résolutions jusqu'à 1 nanomètre, le SEM est capable de résoudre les détails fins de la surface et de sa nanostructure associée. Les capacités d'imagerie de ZEISS EM 109 SEM sont encore améliorées par son étage automatisé permettant un déplacement jusqu'à cinquante-cinq millimètres avec une résolution nanométrique. Le piquage automatisé des images et l'exposition automatique permettent d'obtenir des images précises et reproductibles et réduisent considérablement le temps nécessaire à l'acquisition des données d'imagerie. Cela permet à l'utilisateur d'acquérir rapidement des images haute résolution d'échantillons de grande surface. EM 109 SEM intègre également des suites logicielles complètes pour l'acquisition et l'analyse de données. Cela permet l'imagerie et l'analyse automatisées ainsi que l'analyse post-traitée pour créer des reconstructions 3D et des images volumétriques pour une meilleure compréhension de la microstructure de l'échantillon. En plus de ses capacités d'imagerie, ZEISS EM 109 SEM est une excellente plate-forme pour la caractérisation des matériaux, fournissant aux utilisateurs une gamme d'outils numériques et d'analyse de mesure. Le SEM combine des systèmes matériels et logiciels avancés pour permettre à l'utilisateur de mesurer avec précision les dimensions des échantillons jusqu'à un niveau de précision nanométrique. Il a également la capacité de détecter le désalignement de la colonne atomique, les limites du grain et les défauts planaires, de quantifier la taille et l'orientation du grain et de caractériser la rugosité de la surface. Dans l'ensemble, l'EM 109 SEM est un outil précieux et polyvalent qui permet aux scientifiques d'effectuer une analyse et une caractérisation approfondies d'une grande variété de matériaux. Grâce à ses capacités d'imagerie haute résolution et à ses puissants outils d'analyse de données, il peut fournir aux utilisateurs un aperçu inestimable de la microstructure et des caractéristiques atomiques d'un échantillon.