Occasion ZEISS EM 912 #293799035 à vendre en France

ID: 293799035
Transmission Electron Microscope (TEM) (4) Microprocessor to control sub computers Flexible data and program storage (2) Control panels to the left and right of the column (16) Function keys above and below the control monitor Keyboard Control monitor Printer Computer: AT-compatible system Electron optics: Lighting system Objective lens Energy spectrometer Vacuum system consists of a differential pump system: Goniometer Telescope Fluorescent screen Sheet film camera High voltage system 2000 Slow scan camera Electron source: LaB6 Crystal Accelerating voltage: 60kV-120kV.
ZEISS EM 912 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) développé par la célèbre société de technologie d'optique et d'imagerie ZEISS. Cet instrument de pointe est conçu pour des applications avancées d'imagerie et d'analyse à l'échelle nanométrique dans un large éventail de domaines scientifiques et industriels. EM 912 offre des capacités d'imagerie exceptionnelles, une manipulation précise des échantillons et des fonctionnalités d'analyse polyvalentes pour répondre aux exigences de la recherche et du développement modernes. Au cœur de ZEISS EM 912 se trouve un système sophistiqué d'optique électronique qui permet l'imagerie haute résolution des spécimens avec une clarté et un détail inégalés. Le SEM utilise un faisceau d'électrons focalisés pour sonder la surface de l'échantillon, générant des images de haute qualité avec des grossissements allant de quelques dizaines à plusieurs centaines de milliers de fois. Cela permet aux chercheurs de visualiser les structures, les particules et les caractéristiques à l'échelle nanométrique et d'étudier leurs propriétés physiques et chimiques. L'optique électronique avancée de l'EM 912 comprend une source d'électrons très stable, des lentilles électroniques de pointe et des mécanismes de contrôle du faisceau de précision. Ces composants travaillent ensemble pour produire des images vives et contrastées avec un minimum de distorsions et d'artefacts, ce qui permet aux chercheurs d'examiner des détails fins et des structures complexes avec une clarté exceptionnelle. Le SEM est également équipé de détecteurs avancés qui peuvent capturer des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des rayons X émis par l'échantillon, permettant une analyse complète de sa composition et de ses propriétés. En plus de ses capacités d'imagerie, ZEISS EM 912 offre des fonctionnalités avancées de manipulation d'échantillons qui améliorent le contrôle et la flexibilité de l'utilisateur pendant les expériences. Le SEM est équipé d'un étage motorisé précis qui permet un positionnement et un balayage précis de l'échantillon sous le faisceau d'électrons. Les chercheurs peuvent précisément basculer, faire tourner et traduire l'échantillon pour examiner différentes régions d'intérêt et acquérir de multiples images sous divers angles. L'instrument prend également en charge les routines d'imagerie automatisées, ce qui facilite la capture d'images de grande surface, le montage et la génération de reconstructions 3D d'échantillons complexes. De plus, EM 912 est équipé d'une gamme d'outils d'analyse et d'accessoires qui permettent aux chercheurs d'effectuer des caractérisations détaillées et des mesures d'échantillons à l'échelle nanométrique. Le SEM peut être couplé avec des détecteurs de spectroscopie X (EDS) dispersive d'énergie pour analyser la composition élémentaire de l'échantillon et cartographier la distribution des éléments chimiques avec une sensibilité et une résolution spatiale élevées. Les chercheurs peuvent également utiliser des détecteurs de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) pour étudier l'orientation cristallographique et la structure des grains des matériaux, ce qui fournit des informations précieuses sur leurs propriétés mécaniques et leurs performances. Dans l'ensemble, ZEISS EM 912 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre une qualité d'imagerie exceptionnelle, une manipulation précise des échantillons et des capacités d'analyse polyvalentes pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Avec son optique électronique avancée, son imagerie haute résolution et ses outils d'analyse complets, le SEM offre aux chercheurs une plateforme puissante pour explorer et comprendre les subtilités des matériaux et des structures à l'échelle nanométrique, propulsant l'innovation et la découverte dans divers domaines de recherche.
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