Occasion ZEISS EVO 40 #293592536 à vendre en France

ZEISS EVO 40 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie haute résolution utilisé pour l'examen de spécimens à l'échelle nanométrique. Avec une distance de travail maximale d'un millimètre, un petit champ de vision (FOV) de 5nm et une résolution pouvant atteindre 5µm, EVO 40 est un excellent choix pour l'imagerie et l'analyse extrêmement précises. ZEISS EVO 40 est un SEM corrigé de l'aberration avec un canon à émission de champ froid (FEG) et des capacités de revêtement en couches minces. La FEG crée un faisceau d'électrons hautement focalisé qui peut produire des images de surface extraordinairement lisses avec un faible bruit et une très bonne définition des bords. Le procédé de revêtement en couche mince offre une fine couche de protection à la surface de l'échantillon tout en permettant une détection et un contraste élevés du faisceau d'électrons. EVO 40 comprend également un détecteur de rétrodiffusion et un détecteur secondaire d'électrons, qui permettent d'obtenir des images très détaillées de diverses propriétés, y compris la composition de surface, la taille des grains et d'autres caractéristiques des surfaces. ZEISS EVO 40 comprend également des logiciels avancés pour fournir une analyse d'image améliorée. Des outils de mesure et d'imagerie avancés tels que la reconstruction 3D, l'analyse de ligne et les méthodes de contraste avancées sont également disponibles. Ces outils permettent à l'utilisateur d'effectuer une variété de mesures incluant la morphologie, les mesures de surface et de dimensions, la rugosité de surface et la cristallinité, et les structures complexes des dispositifs. En outre, EVO 40 offre une variété de porte-spécimens pour assurer la compatibilité et la sécurité. ZEISS EVO 40 est construit avec une unité principale de microscope électronique optique et à balayage haute performance. L'instrument est conçu pour un fonctionnement et un entretien sûrs, offrant des fonctionnalités telles qu'un système de sécurité intégré, un système de surveillance de la température et d'avertissement, et une clé indépendante pour verrouiller le microscope afin d'assurer une utilisation sûre. L'interface utilisateur est intuitive, offrant des interfaces utilisateur graphiques simples ainsi que des outils de mesure et d'imagerie avancés. EVO 40 offre des capacités d'imagerie uniques et de haute précision à un prix abordable, ce qui en fait un SEM idéal pour une large gamme d'applications. Avec son interface personnelle, son imagerie précise, ses revêtements et détecteurs fiables, ZEISS EVO 40 est l'outil parfait pour la recherche et l'analyse en microscopie.