Occasion ZEISS EVO 40 #9204591 à vendre en France

ZEISS EVO 40 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) leader mondial qui combine des performances d'imagerie supérieures et une acquisition rapide de données. Cela permet aux utilisateurs d'analyser, d'identifier et de caractériser rapidement les échantillons avec une précision et des détails inégalés. EVO 40 est construit avec un filtre d'énergie modulaire en colonne qui relie sans fil un système de rayons X dispersif d'énergie. Cela permet à l'utilisateur d'identifier avec précision les distributions élémentaires dans un échantillon en utilisant la spectroscopie X. Le grand champ de vision du FESEM permet théoriquement de capturer un échantillon entier en un seul cliché, fournissant rapidement à l'utilisateur une image détaillée de l'échantillon avant de zoomer pour plus de détails. ZEISS EVO 40 intègre la technologie brevetée de microscopie électronique à balayage à pression variable (VP-SEM) de la société, qui réduit la pression de vide centrale à l'intérieur de la chambre à un maximum de 5 µPa, permettant l'imagerie à la plus haute résolution de matériaux non conducteurs. Cela réduit également le diamètre du faisceau d'électrons à seulement 1,2 nm - une percée dans l'imagerie et l'analyse ultra haute résolution. EVO 40 a également la capacité d'effectuer l'imagerie électronique secondaire en temps réel à l'aide de son filtre d'énergie breveté AccVolt, fournissant à l'utilisateur des images numériques des micro-caractéristiques de surface de l'échantillon. Le filtre AccVolt permet également à l'utilisateur de calibrer automatiquement les images en un simple clic. Pour garantir une performance optimale malgré de longues heures de fonctionnement, la conception de ZEISS EVO 40 comprend des mécanismes de refroidissement très efficaces dans tout le système pour maintenir une température constante tout en évitant les dommages aux échantillons. Pour sa part, EVO 40 offre des capacités analytiques avancées - telles que l'analyse EDS et WDS, une sorte d'analyse aux rayons X multicomposants - en plus des techniques d'analyse SEM plus habituelles comme EBSD, CL et l'imagerie filtrée par l'énergie. Le FESEM dispose également d'un puissant ensemble d'analyse de particules dans le cadre de son analyse avancée qui peut mesurer la taille, la morphologie, la composition chimique et cristalline d'un matériau. Enfin, ZEISS EVO 40 propose un ensemble d'automatisation pour contrôler l'instrument et traiter l'analyse d'échantillons, permettant aux utilisateurs de programmer rapidement des opérations répétitives, de recueillir des données à grande vitesse, et même d'automatiser l'analyse d'images. Dans l'ensemble, EVO 40 est un microscope électronique à balayage très avancé qui offre les meilleures performances d'imagerie et d'analyse possibles. Sa combinaison d'imagerie haute résolution, d'analyse des rayons X puissante, de capacités analytiques avancées et de contrôle automatisé des échantillons en font un instrument idéal pour tout laboratoire qui nécessite les plus hautes performances dans un microscope tout-en-un.