Occasion ZEISS EVO 50 #293614656 à vendre en France

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ID: 293614656
Scanning Electron Microscope (SEM) Variable pressure acceleration voltage: 0.2 - 30 kV Magnification: 5x - 1,000,000x 5-Axis motorized specimen stage Range (X, Y, Z): 100 x 125 x 55 mm T: 0 - 90º Resolution: 3072 x 2304 pixel Signal acquisition: Integrating and averaging Detectors: OXFORD INSTRUMENTS 51-ADD0048 X-Act SDD Detector BSE Detector SE Detector Variable pressure SE detector (2) PC (2) Monitors / Controls (2) HERZAN AVI400M Vibration isolation control VARIAN Vacuum pump Oil catcher Wiring.
ZEISS EVO 50 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) capable de produire des images à très haute résolution. Il utilise une gamme de systèmes électroniques de détection et de matériel électronique qui permet à l'utilisateur de prendre des mesures détaillées à l'échelle nanométrique avec une grande précision. EVO 50 offre un pouvoir de résolution inégalé à des niveaux de grossissement élevés, ce qui en fait un outil inestimable pour la recherche scientifique, les laboratoires industriels et universitaires, ainsi que pour diverses autres applications. ZEISS EVO 50 possède une variété de systèmes électroniques intégrés, tels que la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie, la spectroscopie à rayons X dispersive de longueur d'onde et l'imagerie électronique rétrodiffusée. Les images haute résolution produites par ce SEM sont obtenues avec un canon à émission de champ moderne (FEG) qui permet à l'utilisateur de collecter des électrons à leur source, permettant des niveaux de grossissement très élevés. EVO 50 dispose également d'une multitude d'autres fonctionnalités, telles qu'un système et un logiciel d'imagerie avancés, une vaste collection de modes de balayage, des algorithmes de traitement d'image haute résolution, un algorithme automatisé de recherche de fonctionnalités, ainsi qu'un ensemble de presets automatisés pour un fonctionnement rapide et facile. La phase de basculement de la caméra facilite l'examen des objets tridimensionnels, tandis que sa conception de bruit de fond faible minimise le bruit externe provenant de l'environnement. Les commandes électroniques automatisées intégrées de ZEISS EVO 50 lui permettent de travailler avec une large gamme d'échantillons SEM, assurant ainsi sa compatibilité avec une variété de matériaux. Grâce à son canon à émission de champ très efficace, EVO 50 peut balayer rapidement la surface d'un échantillon à différents angles pour détecter les caractéristiques de surface et la répartition des particules. ZEISS EVO 50 peut également être utilisé pour effectuer des tâches d'imagerie et de microscopie, telles que des images de cellules et de tissus biologiques et pour scanner des particules microscopiques. Sa technique intégrée d'ionisation par électrospray, ainsi que son système d'imagerie avancé, permettent à l'utilisateur d'étudier des points très localisés jusqu'à des régions de taille nanométrique. Ce SEM avancé offre également une foule d'autres fonctionnalités telles que la conception à faible vibration, les fonctionnalités de réduction du bruit et la possibilité d'enregistrer des images et des données sur un ordinateur portable ou de bureau PC. EVO 50 fournit des images incroyablement détaillées qui peuvent être utilisées dans tous les types d'études scientifiques, ce qui en fait un outil essentiel non seulement pour la recherche avancée, mais aussi pour les laboratoires industriels et universitaires.
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