Occasion ZEISS EVO 50 #293830550 à vendre en France

ZEISS EVO 50
ID: 293830550
Scanning Electron Microscope (SEM).
ZEISS EVO 50 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM). Un microscope électronique à balayage permet l'imagerie d'objets de quelques nanomètres jusqu'à quelques millimètres de taille. Il s'agit d'un outil essentiel pour diverses applications de la recherche et de la science des matériaux, de l'imagerie des nanomatériaux à l'analyse des microstructures et des matériaux organiques. EVO 50 est un modèle avancé de SEM, utilisant la dernière technologie pour fournir une imagerie haute résolution, une profondeur de champ supérieure, et une excellente qualité de surface. Il est équipé d'un canon à émission de champ Schottky (FEG) de pointe qui offre une tension ultra-basse d'accélération et d'atterrissage des électrons, ce qui donne une résolution et une qualité d'image supérieures. Le pistolet est également capable d'effectuer une imagerie à faible dose et à fort courant, ce qui permet une analyse efficace des échantillons. De plus, l'instrument dispose d'une cathode haute fréquence à contraste élevé pour une imagerie stable et répétable. ZEISS EVO 50 a une pression de chambre de 2 x 10-5 mbar, permettant une manipulation précise des conditions de vide et d'atomisation, critique pour un fonctionnement fiable. De plus, en raison de sa grande dynamique, il peut manipuler plusieurs types d'échantillons, des matériaux organiques et biologiques aux objets macroscopiques et aux couches minces solides. EVO 50 est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires (SE) et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour des capacités d'imagerie avancées. Le détecteur SE est capable de produire des images à fort contraste et à haute résolution avec une excellente profondeur de champ, permettant une observation détaillée des échantillons. D'autre part, le détecteur ESB est idéal pour l'imagerie topographique de surface et la composition des caractéristiques macroscopiques et nanométriques. Pour faciliter l'analyse des échantillons, ZEISS EVO 50 est livré avec des outils avancés de manipulation des échantillons tels qu'un porte-échantillons piézoélectriques, une chambre Environmental SEM (ESEM) et une fonction de compensation de dérive. Le porte-échantillon piézoélectrique peut supporter des échantillons jusqu'à 50 kg en poids, et basculer et tourner selon des angles variables. La chambre ESEM est une chambre d'environnement contrôlée par pression, spécialement conçue pour effectuer des analyses d'échantillons humides et d'échantillons non conducteurs/faiblement conducteurs. Enfin, la fonction de compensation de la dérive permet à l'instrument de réduire tout mouvement ou vibration indésirable de l'échantillon, assurant une acquisition précise des données dans un environnement fluctuant. Dans l'ensemble, EVO 50 est un microscope électronique à balayage avancé, riche en fonctionnalités, offrant des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures. C'est une solution idéale pour une variété d'applications de recherche et de science des matériaux où l'imagerie et l'analyse haute résolution sont nécessaires.
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