Occasion ZEISS EVO 50H #82084 à vendre en France

ZEISS EVO 50H Scanning Electron Microscope (SEM) est une solution performante et économique pour l'imagerie, la mesure et l'analyse de petites particules à fort grossissement. Il est équipé de deux spectromètres à rayons X dispersifs d'énergie (EDS), fournissant une analyse simultanée de la composition élémentaire en un seul balayage. EVO 50H a également la capacité de détecter et de mesurer automatiquement la taille et la forme des particules, même les plus petites, sur une large gamme de grossissements. En plus de ses performances améliorées, ZEISS EVO 50H est conçu pour être facile à utiliser, avec des contrôles intuitifs et programmables, ce qui le rend adapté aux utilisateurs expérimentés et novices. Son interface utilisateur intuitive pour la configuration et l'analyse des échantillons est optimisée pour une utilisation avec des interactions multi-usages et multi-médias pour soutenir une analyse efficace des échantillons. Les fonctionnalités avancées d'EVO 50H comprennent une grande chambre, permettant une manipulation facile des spécimens, des techniques d'imagerie avancées telles que la ptychographie et la cartographie, et le traitement automatisé des images. Sa technologie de pointe comprend une caméra haute résolution et haute définition, associée à un étage motorisé, permettant l'acquisition rapide et précise d'images et la navigation d'échantillons. En outre, ZEISS EVO 50H comprend également des fonctionnalités avancées de manipulation d'échantillons, telles que la capacité motorisée et auto-focus, permettant un mouvement rapide, sûr et précis de l'échantillon. Enfin, EVO 50H est équipé d'outils logiciels pour gérer et analyser les données, permettant aux utilisateurs de générer des images et des ensembles de données de haute qualité pour l'analyse. Toutes les analyses de données sont stockées dans ZEISS EVO 50H, ce qui élimine le besoin de stockage de données externes et permet une comparaison efficace des données. De plus, EVO 50H offre une variété d'options de post-traitement et de programmes d'analyse d'image, permettant une caractérisation efficace des échantillons. En résumé, ZEISS EVO 50H Scanning Electron Microscope fournit aux utilisateurs un outil avancé, fiable et rentable pour l'imagerie, la mesure et l'analyse de petites particules pour une variété d'applications. Son interface utilisateur intuitive, ses techniques d'imagerie avancées, ses fonctions d'auto-focus et de manipulation d'échantillons, associées à des outils logiciels complets, fournissent aux utilisateurs expérimentés et novices une solution SEM complète.