Occasion ZEISS EVO MA10 #9377691 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
Vendu
ID: 9377691
Scanning Electron Microscope (SEM)
5-Axis controller
Turbine molecular pump
X-Y Sample table travel
Optical system:
Light wire source
Automatic electronic gun
Automatic centering
Manual and automatic focus function
3-Stage lights
Acceleration: 0.2-30kV, 10 V
Electron beam displacement: ±20 pm
Magnification: 7-1,000,000x
Resolution:
3.0 nm at 30 kV
3.5 nm at 30 kV
Probe current range: 0.5 pA - 5 pA
True empty system:
Air pump:
Scroll moduler
Mechanical
True space: Better than 2x10^-4 Pa
Range: 10 Pa-133 Pa
Pumping time: <3 minutes
Sample room type: Rigidity, round, thick wall, sample
Sample room inner size: 310mm(p) x 220mm
Diameter: 230mm
Height: 100mm
Maximum weight allowable: not less than 5kg
Sample table moving mode: 5 axis
Sample table moving range: X=80mm, Y=100mm, Z=35mm, T=-10°-90°, R=360°,Z-35mm, T=-10°-90°, R=360°
X-ray analysis conditions: Exit angle 35 degrees
Analysis working distances: 8.5-20mm
Detection imaging system
Air two time electronic detector
Back scattering electronic detector with line spectrometer interface
Scanning mode:
Full screen
Selection
Point
Line scanning
Linear profile
Scanning rotation
Tilt compensation
Image resolution: 3072 x 2304 pixels (maximum)
Image control:
Resolution mode
Depth view of mode
Analysis mode
Field of view mode
Operating system: Windows 7
Display: 24" TFT.
ZEISS EVO MA10 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour la recherche et les applications industrielles. Il dispose d'une construction de colonne avancée, qui offre une meilleure stabilité mécanique et isolation des vibrations, assurant une imagerie précise. L'instrument est capable d'acquérir des images d'échantillons avec des résolutions allant jusqu'à 1 nm et de capturer des structures sous-microns très détaillées. La tension d'accélération réduite de 0,2 à 30 kV permet l'installation de détecteurs haut de gamme pour l'analyse du spectre à large portée, des rayons X aux électrons rétrodiffusés, en passant par l'imagerie d'une grande couverture d'échantillon avec précision. En outre, la distance de travail généreuse du système (jusqu'à 194 mm) donne aux utilisateurs plus de flexibilité lors de l'imagerie. Il présente une grande ouverture de chambre d'un diamètre de 275mm, permettant un large champ de vision et par conséquent, de multiples échantillons sur la grille. Le SEM est livré avec champ de vision, qui peut être facilement ajusté de 5 um x 5 um à 1 mm x 1 mm. Le détecteur High-Angle Annular Dark-Field (HAADF) et la combinaison unique d'un grand Field Emission Gun (FEG) et d'un ensemble de canons à électrons haut de gamme permettent à l'utilisateur de résoudre même les plus petits détails, donnant des performances d'imagerie améliorées. La vitesse de balayage rapide et les capacités de manipulation d'image en temps réel garantissent une image à faible bruit et haute résolution. Les composants matériels et logiciels de ZEISS EVO MA 10 sont bien adaptés à des applications telles que la recherche haut de gamme et l'analyse des défaillances. Les composants logiciels conviviaux comprennent des contrôles intuitifs, l'acquisition de données par simple clic de souris et l'amélioration automatisée de l'image. L'analyse automatisée des images et les technologies d'imagerie avancées telles que la spectroscopie dispersive d'énergie et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons offrent d'autres capacités pour la caractérisation des matériaux complexes. L'instrument est également capable d'imagerie non destructive par microanalyse de rayons X in situ. En conclusion, EVO MA10 est un microscope électronique à balayage puissant, compact et précis qui offre une résolution et des performances supérieures. Il offre un large éventail de modes d'imagerie ainsi que des capacités d'analyse d'image automatisées pour l'analyse des échecs et d'autres applications de recherche. La facilité d'utilisation, la flexibilité qu'elle offre ainsi que la polyvalence de la capacité d'image des petits ou grands échantillons en font l'un des premiers SEM disponibles aujourd'hui.
Il n'y a pas encore de critiques