Occasion ZEISS / GEMINI Supra 55 DCG-Z #9260646 à vendre en France
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Vendu
ID: 9260646
Style Vintage: 2012
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With EBC HAS and TCP upgraded
2012 vintage.
ZEISS/GEMINI Supra 55 DCG-Z Scanning Electron Microscope est un outil puissant pour l'imagerie haute résolution et l'analyse des caractéristiques de surface des matériaux. Cet équipement est doté d'une chambre à pression variable et d'une optique très fine, offrant une imagerie SEM haute résolution qui peut révéler des détails complexes de la surface de l'échantillon. Il offre une profondeur de champ impressionnante et une profondeur de focalisation et peut distinguer de fines différences de hauteur et de contraste. Ce système est adapté à une gamme d'applications et d'industries telles que la métallographie, la science des matériaux, la nanotechnologie et la recherche sur les semi-conducteurs. Le microscope électronique à balayage ZEISS Supra 55 DCG-Z est équipé d'un grand champ de vision et d'une vitesse de balayage élevée, ce qui le rend adapté à une gamme d'applications nécessitant une imagerie et une analyse rapides et précises. Sa haute efficacité, sa résolution et sa résolution spatiale améliorent de loin les performances de l'unité. Cette machine est également équipée de l'outil Confocal Imaging et des fonctionnalités d'amélioration du contraste, permettant d'obtenir encore plus de détails dans l'imagerie des échantillons. Cet atout est doté d'un pistolet à émission de champ, qui offre une imagerie et une précision supérieures aux technologies SEM standard. Sa chambre à pression variable offre également des performances optimales, lui permettant de surveiller et de maintenir l'imagerie haute résolution. Avec son canon micro-focalisé, il peut identifier et distinguer avec précision les particules individuelles et les caractéristiques sur le même échantillon. GEMINI Supra 55 DCG-Z Scanning Electron Microscope est un modèle polyvalent qui est hautement personnalisable aux besoins de l'utilisateur. Il est équipé d'une gamme de détecteurs qui peuvent être utilisés pour améliorer le processus d'imagerie et la précision, y compris un détecteur EDX/WDX combiné, détecteur EDS, et Everhart-Thornley détecctor. Il dispose également d'une gamme d'étapes de processus automatisées, telles que l'étape d'échantillonnage, le contrôle de lentille objective et le contrôle d'imagerie. Ces caractéristiques, associées à son interface conviviale et à une gamme de porte-spécimens, font de la Supra 55 DCG-Z Scanning Electron Microscope un équipement idéal pour les besoins de recherche industrielle et de laboratoire. En tant qu'outil d'imagerie polyvalent, ce système est un excellent choix pour l'imagerie SEM haute résolution. Il possède une précision et une clarté d'image supérieures, ce qui lui permet de saisir et d'analyser des détails complexes de la surface de l'échantillon, avec une fiabilité et une répétabilité supérieures.
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