Occasion ZEISS Gemini #9249507 à vendre en France

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ID: 9249507
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) ORSAY Cobra FIB Column ORSAY MonoGIS Gas injection system In-lens SE In-lens EsB SESI Secondary ion detector Lens BSE detector Charge compensator injection needle SEM Column Operating system: Windows 7 Monitor: 2" x 19" Control panel: Keyboard With Knobset Includes: UPS Pumps Chillers Does not include: EDS WDS EBSD XEI Evactron Combiclean TMC Stacis iX Air table EM Field cancellation system Cage / Frame.
Le microscope électronique à balayage ZEISS Gemini (SEM) est un microscope électronique à balayage spécialement conçu pour une large gamme d'images, allant de l'analyse de petites zones à des aperçus d'échantillons de très grandes zones. C'est un outil très polyvalent qui peut être utilisé pour représenter la surface d'une variété de matériaux, y compris les métaux, les plastiques et les substances organiques. Le SEM peut être utilisé pour observer en détail les propriétés physiques et chimiques des spécimens. Gemini SEM a également la capacité d'image avec haute résolution pour une analyse détaillée. Le SEM utilise une lentille électrostatique pour focaliser les électrons émis de l'échantillon sur le détecteur d'image, ce qui génère une image de la surface de l'échantillon. ZEISS Gemini SEM offre une large gamme de paramètres d'imagerie pour personnaliser l'image aux besoins de l'utilisateur. Le SEM offre à la fois des capacités d'imagerie électronique secondaire haute performance (SE) et d'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). L'image SE est adaptée à l'observation de la topographie de surface de l'échantillon et l'image ESB est adaptée à l'imagerie de contraste chimique. Gemini SEM a également la capacité de saisir des informations analytiques plus détaillées. Il comprend la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie intégrée (EDS), qui peut être utilisée pour déterminer la composition élémentaire de l'échantillon. Le SEM dispose également d'une gamme de capacités automatisées d'acquisition et d'analyse d'images telles que l'analyse de particules et l'imagerie 3D en volume. Ces capacités d'analyse automatisées peuvent être utilisées pour saisir rapidement et facilement des informations sur la microstructure de l'échantillon. ZEISS Gemini SEM est un outil fiable et robuste pour l'imagerie et l'analyse. Il est également très convivial et les fonctionnalités automatisées permettent aux utilisateurs de saisir rapidement et avec précision les images et les données. Cela fait de Gemini l'outil idéal pour un large éventail de besoins d'analyse et d'imagerie.
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