Occasion ZEISS LEO 1530 #9286929 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage ZEISS LEO 1530 (SEM) est un outil avancé pour l'analyse et la caractérisation de divers matériaux avec une résolution et une sensibilité extrêmement élevées. LEO 1530 SEM est équipé d'un générateur avancé de 10MV qui fonctionne avec un système de lentilles de condenseur optimisé pour produire un faisceau d'électrons optimal pour l'imagerie haute résolution et les mesures. ZEISS LEO 1530 comprend également des détecteurs secondaires et rétrodiffuseurs avancés, qui produisent des images de haute qualité et des mesures d'échantillons même les plus difficiles. LEO 1530 utilise un étage avancé pour le balayage de spécimens, avec jusqu'à 12 axes de mouvement motorisé pour un contrôle de position précis. Cela permet d'étudier les caractéristiques 3D des matériaux ayant la résolution spatiale la plus élevée, ainsi que les modèles des caractéristiques à grande échelle avec une grande sensibilité. ZEISS LEO 1530 peut même fournir des analyses et des mesures de matériaux cellulaires et biologiques, avec la mise en œuvre de la technologie des électrons rétrodiffusés à l'énergie. De plus, LEO 1530 peut éventuellement être interfacé avec un spectromètre dispersif d'énergie (EDS) pour l'analyse de composition. L'EDS est parfait pour déterminer les pourcentages atomiques des éléments présents dans l'échantillon, ainsi que leur distribution. ZEISS LEO 1530 est également capable d'imagerie électronique secondaire, ainsi que d'imagerie électronique rétrodiffusée, et peut être équipé d'un spectromètre à rayons X pour une analyse plus approfondie. En conclusion, LEO 1530 est un instrument de caractérisation extrêmement polyvalent pour de nombreux types de matériaux. Il est équipé avec un avancé 10MV le générateur, le stade motorisé et les RÉDACTEURS optionnels et le spectromètre de Rayons X pour l'analyse compositional. Avec son imagerie haute résolution et ses détecteurs puissants, le LEO est parfait pour toutes les exigences d'imagerie, de mesure et d'analyse.