Occasion ZEISS Sigma #9316549 à vendre en France

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ID: 9316549
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Magnification: 10x to 1,000,000x Resolution: 1 nm at 15kV with HD Does not include PC.
ZEISS Sigma est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution. Le SEM est utilisé pour analyser les propriétés physiques des matériaux sur les nanostructures, y compris la topologie, la composition, la cristallinité et la microstructure. Sigma dispose d'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie dans les lentilles (EDS) qui permet d'identifier la composition élémentaire des matériaux. Cela permet une cartographie élémentaire et chimique des échantillons, fournissant un aperçu de leurs matériaux constitutifs et une corrélation avec des propriétés physiques complexes. ZEISS Sigma fournit une imagerie haute résolution jusqu'à 1nm, permettant aux utilisateurs de résoudre des détails auparavant impossible. Sa résolution améliorée est obtenue à l'aide d'une optique électronique à l'intérieur de la lentille, ce qui réduit les aberrations, conduisant à des images plus précises que d'autres électrons sont focalisés sur l'échantillon. Le SEM offre des fonctionnalités automatisées telles que le balayage automatisé et l'autofocus. L'autofocus est nécessaire quand on regarde des échantillons d'épaisseurs diverses, car la lentille électronique nécessite un ajustement pour focaliser l'image résultante. La fonction de balayage automatique permet la capture automatique de plusieurs images à intervalles de temps déterminés, réduisant le temps consacré à l'examen des échantillons et déplaçant la mise au point vers l'interprétation des images. De plus, Sigma offre des possibilités d'inclinaison et de mouvement de rotation pour visualiser des échantillons sous de multiples angles. La capacité d'inclinaison est particulièrement utile pour la caractérisation des matériaux car elle permet aux utilisateurs de prendre en compte des effets tridimensionnels tels que l'alignement de la structure cristalline, permettant l'interprétation des données au nano- et au microscale. L'interface de ZEISS Sigma est conçue avec un fonctionnement intuitif et des réglages personnalisables, ce qui la rend simple et facile à utiliser. De plus, le microscope peut être attaché à un ordinateur personnel pour enregistrer et manipuler des données. Cela rend le partage et l'archivage des données simples et efficaces. Dans l'ensemble, Sigma est un microscope électronique à balayage excellent et avancé. Sa résolution supérieure, son fonctionnement automatisé et son interface intuitive en font un outil idéal pour la caractérisation et l'analyse des matériaux.
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