Occasion ZEISS Ultra 55 #9194483 à vendre en France

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ID: 9194483
Scanning electron microscope (SEM) High resolution mode: 20nA Oil free pumping system: XDS10 (220-240V) Operating system: Windows with keyboard Control panel USB US Vers with firmware Flange kit: 4QBSD, 55 / 55VP / UltraPlus Airlock programed, 80mm (3) Multiple single stub holder 4 Multi-purpose sample holder Faraday cup USB Dongle X-Ray / External scan input panel kit Flat panel TFT color monitor, 19" Mechanical adapter: BRUKER AXS Detectors Air compressor with auto drain THERMOCUBE 400 W, 3 lpm Gear chiller AVI-400 Extra MP active vibration isolation Field view: Fibics atlas EVO Hi-res imaging for FESEM LCD TFT Monitor: HP ZR2440w Shuttle / Find EM AV4 Mod LM-EM Site Lic.
ZEISS Ultra 55 est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de produire des images haute résolution et des mesures extrêmement précises sur une large gamme d'échantillons. C'est un instrument de laboratoire efficace qui permet aux utilisateurs d'observer, de mesurer et d'analyser les matériaux avec une précision de niveau nanométrique. Ultra 55 est un équipement d'imagerie et d'analyse numérique qui combine le mode à pression variable et le mode à micros-copies électroniques classiques. Il peut être utilisé pour observer des échantillons de grande surface en mode de pression variable, ce qui réduit l'effet de charge de surface. L'instrument est adapté pour l'imagerie industrielle et la recherche de wafers semi-conducteurs de qualité et d'autres dispositifs, tels que MEMS, bio-capteurs et électronique grand public. Le mode semi-conducteur et l'optimisation automatique de la tension d'accélération et de la distance de travail offrent une qualité d'image supérieure avec une résolution pouvant atteindre 0,7 nm. Le système est équipé d'un double objectif de renommée mondiale, qui permet à l'utilisateur de réaliser une imagerie haute résolution dans toutes les directions. De plus, le filtre d'énergie à cinq étages maximise le rapport signal sur bruit pour identifier et mesurer avec précision les dimensions des caractéristiques. Les capacités flexibles de ZEISS Ultra 55 le rendent idéal pour la caractérisation des matériaux. L'imagerie haute résolution et les mesures précises conviennent pour étudier la composition, la topographie de surface, la métrologie des défauts et d'autres caractéristiques d'un large éventail de matériaux. Les capacités nanométriques de l'instrument le rendent parfait pour évaluer les performances lithographiques des matériaux. L'interface utilisateur intuitive de l'instrument fournit des raccourcis aux fonctions prédéfinies. De plus, l'unité est capable d'une acquisition automatisée d'images, permettant de prendre des lots d'images avec une seule commande. La conception unique de l'Ultra 55 combine les capacités d'analyse et d'imagerie en un seul paquet pour une caractérisation efficace et précise des matériaux. Cette machine est adaptée aux marchés de la recherche et de l'industrie et peut être facilement combinée avec d'autres instruments pour encore plus de capacités.
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