Occasion ZEISS Ultra Plus #9028799 à vendre en France
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Vendu
ID: 9028799
FE SEM
0.1 to 30 keV electron beam to image the surface of a sample in high vacuum
Edge resolutions down to 1 nanometer at 15 keV and 1.7 nm at 1 keV
Detectors available:
Inlens SE, Everhart-Thornley SE-BSE
EsB (inlens Energy selective Backscattered electron detector)
STEM (Scanning Transmission Electron detector)
80 mm airlock for sample exchange
Charge Compensation (CC) system:
Places a gas needle close to the sample for localized gas (N2) injection to reduce charging
CC system reduces the skirt effects observed in traditional variable pressure systems and the normal SE detectors (Inlens and Everhart-Thornley) can be used.
ZEISS Ultra Plus est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui peut être utilisé pour observer la structure des matériaux à très haute résolution. Cet équipement dispose d'une colonne électronique haute performance qui permet l'imagerie à une résolution supérieure à 5 nanomètres. La colonne d'électrons est couplée avec un canon d'émission de champ ZEISS qui fournit une faible émission d'électrons et une excellente stabilité. Ce système dispose également d'une technologie micro-spot, idéale pour l'imagerie de la structure des matériaux organiques, et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés à haute résolution. Ultra Plus permet aux utilisateurs de sélectionner les meilleures conditions de fonctionnement rapidement et avec précision, et est excellent pour une application nano-structurelle. En plus des capacités d'imagerie haute résolution, ZEISS Ultra Plus offre également des modules d'options pour la lithographie de faisceaux d'électrons et le chauffage in situ, qui peuvent fournir aux utilisateurs un contrôle électrique, chimique et thermique pour les études de fragilisation de l'hydrogène, de corrosion, d'oxydation et d'autres propriétés des matériaux. En outre, le dispositif dispose d'un module de spectroscopie intégré qui peut être utilisé pour la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie et la spectrométrie de perte d'énergie électronique. Ce module de spectroscopie est particulièrement utile pour étudier la composition des matériaux. Enfin, Ultra Plus dispose d'une plate-forme matérielle et logicielle robuste, qui comprend l'alignement automatisé, la correction des dérives et des techniques avancées de traitement d'image pour aider à rationaliser les flux de travail pour une efficacité maximale. De plus, l'appareil peut être utilisé à distance, ce qui permet des collaborations à distance ou un accès à distance aux données. ZEISS Ultra Plus comprend également une unité de chargement d'échantillons, une machine de détection dans les lentilles et une capacité de couture de sous-microns. Ensemble, ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs de préparer et d'observer facilement des matériaux avec une variété de techniques d'imagerie. En conclusion, Ultra Plus est un microscope électronique à balayage avancé qui offre une imagerie haute résolution, chauffage et lithographie in situ, spectroscopie, automatisation et une configuration matérielle unique, ce qui le rend idéal pour l'imagerie et l'analyse nanostructurales. ZEISS Ultra Plus est un excellent choix pour les chercheurs et les ingénieurs à la recherche d'un outil SEM robuste et puissant.
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