Occasion ZHUHAI BOJAY BJ-7800 #9244225 à vendre en France

ZHUHAI BOJAY BJ-7800 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument puissant pour étudier la structure et les propriétés de divers matériaux à des grossissements élevés. BJ-7800 présente une résolution impressionnante de 3,0nm et une tension d'accélération pouvant atteindre 45kV, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications. Il est également livré avec une gamme impressionnante de modes d'imagerie, y compris les électrons secondaires (SE), les électrons rétrodiffusés (ESB), et la cathodoluminescence (CL). Ces modes peuvent être combinés pour fournir des images détaillées des deux caractéristiques structurelles ainsi que la composition des matériaux. ZHUHAI BOJAY BJ-7800 est livré avec une taille standard de 100mm X 200mm. Sa conception modulaire permet d'ajouter diverses options d'analyse, telles que la spectroscopie à rayons X et la spectrométrie de perte d'énergie électronique (EELS). Pour l'étude d'éléments ou de composés spécifiques, le microscope comporte également un module intégré de microscope de filtrage de l'énergie (EFM). Avec ce module, l'utilisateur peut analyser sélectivement les éléments d'intérêt. Le système de vide de BJ-7800 est conçu pour éviter que l'échantillon ne soit endommagé par l'air ou l'humidité. Le microscope est équipé d'un système de turbo-pompage avancé pour l'évacuation rapide de la chambre d'échantillonnage, permettant aux utilisateurs de mener leurs expériences dans des délais plus courts. Il est également livré avec une pompe turbo indépendante pour le module EFM, pour une évacuation plus rapide lors de l'analyse de plusieurs éléments à la fois. ZHUHAI BOJAY BJ-7800 dispose d'une interface numérique robuste pour le connecter à des PC externes, augmentant encore son utilité pour l'analyse de données. Le logiciel de microscopie comprend une macro d'imagerie automatisée pour balayer rapidement un échantillon de grande surface, ainsi qu'une suite d'analyses et d'applications pour analyser les données d'image. Le microscope peut également être relié à une imprimante pour l'impression de micrographes. En résumé, BJ-7800 Scanning Electron Microscope est un excellent outil pour étudier la structure et les propriétés de divers matériaux à des grossissements élevés. L'instrument est livré avec un large éventail de fonctionnalités, de ses modes d'imagerie avancés à son module de filtrage de l'énergie, qui le rendent hautement adapté à une gamme d'applications de recherche scientifique et de contrôle de la qualité industrielle.