Occasion APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar I #87628 à vendre en France

Le Pulsar I est un spectromètre photoélectronique à rayons X (XPS) conçu pour l'analyse de surface de matériaux et de couches minces. L'équipement fonctionne en balayant un faisceau de rayons X sur la surface de l'échantillon et en mesurant les photoélectrons émis à partir de la surface, fournissant des informations précieuses sur la composition de la surface et la structure chimique et physique. La polyvalence structurelle et l'acquisition de données avancées de Pulsar I lui permettent d'acquérir des données dans une gamme de formats et d'environnements expérimentaux, du vide ultra-élevé aux pressions et températures élevées. BILÉCHÈMES APPLIQUÉS Pulsar I combine un système de balayage puissant et polyvalent de μ m avec une puissante source de rayons X sensible à la surface. La source de rayons X est capable de produire des rayons X sous tension d'un large éventail d'éléments, de l'hydrogène à l'uranium, permettant une flexibilité maximale lors de l'analyse d'une variété de compositions de matériaux différents. L'unité de balayage de Pulsar I permet un balayage latéral de résolution jusqu'à 1 μ m, tout en utilisant une petite taille de tache (1,25 μ m) pour acquérir des informations de profondeur. Ce balayage permet de mesurer les surfaces d'un échantillon et les couches plus profondes, avec une résolution latérale et de profondeur de 1 μ m. APPLICATION DE BILÉCHEMS Pulsar I dispose également d'acquisition de données haute résolution. Sa résolution énergétique impressionnante lui permet de différencier les différences de minuscules dans l'énergie des photons de rayons X de différents éléments. De plus, la machine utilise un détecteur à rayons X de grande surface, ce qui lui permet de mesurer des échantillons plus importants tout en conservant un faible nombre d'électrons, ce qui améliore le rapport signal sur bruit. La combinaison d'une excellente résolution énergétique et d'un taux de comptage élevé permet une acquisition plus rapide des données et une mesure plus précise des couches minces ou d'autres structures d'échantillons de couches minces. Enfin, l'outil est également livré avec une grande variété d'options d'analyse de données, y compris le montage de pointe et la déconvolution, ainsi que la capacité d'exporter les résultats pour une analyse plus approfondie avec d'autres logiciels. Cela fournit aux chercheurs des outils puissants pour analyser et interpréter rapidement les données XPS, ainsi que pour visualiser les résultats. Dans l'ensemble, Pulsar I est un spectromètre avancé optimisé pour l'analyse de surface. Sa conception polyvalente lui permet de mesurer une gamme d'échantillons dans différents environnements, et ses capacités d'acquisition de données à haute résolution lui permettent d'acquérir des données précises et précises à partir de l'échantillon. C'est l'instrument idéal pour analyser les surfaces et les couches minces, et son large choix d'options d'analyse des données facilite l'extraction d'informations précieuses.