Occasion ASOMA 200 ED–XRF #60499 à vendre en France

Fabricant
ASOMA
Modèle
200 ED–XRF
ID: 60499
Style Vintage: 1996
Portable analyzer Operates: Battery or 110/220 VAC Analyzes: Up to 6 elements Calibrated for cassetterite ore (Tin ore) For constituents Sn, Nb, Ta, Fe Analysis cassetterite ore Source type: Radioisotope AM 241 Accuracy: Up to 10 ppm Typical analysis time / sample: 10-100 Seconds Analytic range: Aluminum (Atomic number 13) to uranium (Atomic number 92) Includes: Casseterite ores Standard samples Sample cups Currently stored in a cleanroom 1996 vintage.
Le spectromètre ASOMA 200 ED-XRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) est un instrument d'analyse haute performance conçu pour des mesures précises et fiables de la composition élémentaire. Il est capable d'une grande variété de types d'échantillons, y compris les liquides, les solides, les films et les revêtements. Le spectromètre est équipé des derniers détecteurs à l'état solide et de l'électronique, permettant une acquisition de données rapide et efficace. L'instrument ED-XRF se compose de quatre parties principales : une source de rayons X, un détecteur, une carte électronique et une chambre à vide. La source de rayons X est un tube à rayons X qui fournit une émission de rayons X dans une gamme d'énergie très spécifique. La source est montée sur un boîtier en plomb qui absorbe les photons à rayons X de haute énergie indésirables. Le type de source de rayons X utilisée dépend de l'application, par exemple, pour la mesure du profil de profondeur d'un matériau inconnu, l'énergie d'excitation est fournie par un tube à rayons X Cr, et pour les concentrations d'éléments, l'énergie est habituellement fournie par un tube à rayons X Mo. Les photons de rayons X produits par le tube à rayons X sont dirigés dans l'échantillon. Comme les photons interagissent avec l'échantillon, une partie de l'énergie est absorbée et les photons restants sont réémis dans un motif caractéristique. Ce phénomène, appelé fluorescence, est le principal principe de fonctionnement du spectromètre ED-XRF. Les caractéristiques de la fluorescence émise par l'échantillon peuvent alors être mesurées à l'aide d'un détecteur. Le détecteur couramment utilisé pour ED-XRF est un détecteur de silicium dispersif en énergie qui est composé de deux parties : un cristal détecteur et un bras de positionnement. Le cristal détecteur est en Ge ou Si, et est monté sur le bras. La position du cristal détecteur peut être ajustée pour modifier la quantité de photons X entrant dans le détecteur, ce qui permet à l'utilisateur d'optimiser la mesure en fonction de l'application. Le cristal détecteur est relié à la carte électronique par l'intermédiaire d'un amplificateur. La carte électronique est chargée d'amplifier et de traiter le signal du détecteur, permettant ainsi de mesurer les caractéristiques spectrales des rayons X émis par l'échantillon. Enfin, l'instrument ED-XRF est contenu dans une chambre à vide. Ceci est nécessaire pour réduire le nombre de photons de haute énergie, car les photons de plus haute énergie ont un temps de pénétration du vide plus difficile. Cela garantit que les photons à rayons X de la source interagiront avec l'échantillon et que les mesures de l'instrument seront exactes et fiables. Le spectromètre ASOMA 200 ED-XRF est un instrument d'analyse performant capable de mesurer avec précision et fiabilité la composition élémentaire dans diverses applications. Il utilise les derniers développements de la technologie des sources de rayons X, des détecteurs et de l'électronique, permettant une acquisition de données rapide et efficace.
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