Occasion BRUKER-AXS S4 Explorer #293764072 à vendre en France

ID: 293764072
Wavelength Dispersive X‑Ray Fluorescence (WDXRF) Spectrometer Sample holder Crystals: LiF200, LiF220, PET, Graphite, XS-55 No PC No cables.
BRUKER-AXS S4 Explorer est un spectromètre de fluorescence X (XRF) de pointe conçu pour une analyse élémentaire précise et fiable dans un large éventail de matériaux. Cet instrument de pointe offre des capacités de haute performance qui en font une solution idéale pour les laboratoires de recherche, les processus de contrôle de la qualité et les applications industrielles nécessitant une détermination rapide et précise de la composition élémentaire. Au cœur de S4 Explorer se trouve son système sophistiqué de génération et de détection de rayons X. Le spectromètre est équipé d'un tube à rayons X de forte puissance capable de générer un faisceau de rayons X primaire focalisé qui peut cibler des zones spécifiques de l'échantillon étudié. Cela permet aux utilisateurs d'analyser des échantillons de différentes complexités et tailles, de petites particules à de grands objets solides, avec une précision et une sensibilité exceptionnelles. Le système de détection de BRUKER-AXS S4 Explorer est basé sur la technologie de fluorescence X dispersive d'énergie, qui permet une analyse simultanée multi-éléments sans nécessité de mesures séquentielles longues. Il en résulte des temps d'analyse beaucoup plus rapides et une augmentation du débit d'échantillons, ce qui rend l'instrument très efficace pour les applications à haut volume. Une des caractéristiques clés de S4 Explorer est ses capacités logicielles avancées qui permettent un contrôle des instruments sans faille, l'acquisition de données et l'analyse. L'instrument est équipé d'une interface logicielle conviviale qui permet une configuration facile des paramètres expérimentaux, un suivi en temps réel des progrès de l'analyse, et un traitement et une interprétation approfondis des données. BRUKER-AXS S4 Explorer offre une large gamme de capacités analytiques, y compris l'analyse élémentaire qualitative et quantitative, la cartographie élémentaire, la mesure de l'épaisseur des couches et l'identification des matériaux. L'instrument peut analyser les éléments du sodium à l'uranium dans une variété de types d'échantillons, y compris les solides, les liquides, les poudres et les couches minces, avec une grande précision et précision. En outre, S4 Explorer dispose d'un design compact et robuste qui garantit la fiabilité et la stabilité à long terme dans des environnements de laboratoire exigeants. L'instrument est équipé de dispositifs de sécurité avancés pour protéger les utilisateurs contre les risques potentiels associés aux rayonnements X, garantissant un environnement de travail sûr pour les opérateurs. Dans l'ensemble, BRUKER-AXS S4 Explorer est un spectromètre XRF de pointe qui offre des performances inégalées, une polyvalence et une facilité d'utilisation pour des applications d'analyse élémentaire dans la recherche, le contrôle de la qualité et les environnements industriels. Avec sa technologie de pointe, sa grande sensibilité analytique et son bon fonctionnement, l'instrument est un outil indispensable pour les scientifiques et les chercheurs qui cherchent à obtenir des données précises et fiables sur la composition élémentaire d'un large éventail de matériaux.
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