Occasion BRUKER-AXS Vertex 70 #293649663 à vendre en France

BRUKER-AXS Vertex 70 est un spectromètre conçu pour la recherche en diffraction des rayons X (XRD). Le sommet 70 est un instrument performant capable de fournir des informations détaillées sur la structure, les propriétés et la dynamique de différents échantillons. BRUKER-AXS Vertex 70 est équipé d'une source de rayons X monochromatique haute résolution, d'un étage d'échantillonnage de haute précision, d'un ensemble de détecteurs et d'un système d'acquisition et d'analyse de données. La source de rayons X a une longueur d'onde de 0,15418 nm qui lui permet de détecter de petites modifications subtiles des paramètres de l'échantillon. L'étage d'échantillonnage peut se déplacer dans un espace tridimensionnel et positionner précisément un échantillon par rapport au faisceau de rayons X. Combiné à cela, Vertex 70 a une plage angulaire de 1 ° et peut résoudre des caractéristiques jusqu'à 0,0004 °. L'ensemble détecteur comporte une paire de détecteurs de scintillation sensibles aux pics de diffraction des rayons X qui permettent une grande efficacité de collecte. BRUKER-AXS Vertex 70 dispose également d'un système intégré d'acquisition de données avec des logiciels avancés pour la collecte, l'analyse et l'affichage des données. Le logiciel permet aux utilisateurs de personnaliser les paramètres ainsi que les fonctionnalités pour des tâches spécifiques. Il comprend également une fonction de collecte automatisée de données et une bibliothèque d'expériences prédéfinies. Vertex 70 dispose également d'une interface utilisateur graphique conviviale avec une gamme d'outils graphiques différents pour visualiser des données. BRUKER-AXS Vertex 70 peut être utilisé pour analyser une grande variété de matériaux et de paramètres, notamment des minéraux, des polymères, des cristaux, des produits pharmaceutiques et des nanomatériaux. En plus d'être utilisé pour analyser des échantillons, le spectromètre peut être utilisé pour étudier la structure des matériaux et leurs propriétés telles que la rugosité de surface, la température, la déformation et la cristallinité. Il est également utilisé dans des domaines de recherche tels que la catalyse, la corrosion et la préparation de couches minces. Dans l'ensemble, Vertex 70 est un spectromètre haute performance spécialement conçu pour la recherche détaillée sur la diffraction des rayons X. Il dispose d'une source de rayons X haute résolution et d'une étape d'échantillonnage très précise ainsi que d'un système intégré d'acquisition et d'analyse des données. De plus, le spectromètre est capable d'analyser un large éventail de matériaux et de paramètres avec une grande précision.