Occasion CAMECA IMS 1270 #9023316 à vendre en France

CAMECA IMS 1270 est un spectromètre de masse d'ions secondaires (SIMS) de haute performance conçu par CAMECA Scientific Instruments pour l'analyse élémentaire et isotopique. L'instrument se compose d'une source d'ions, d'un spectromètre de masse et de détecteurs qui travaillent tous ensemble pour analyser les échantillons. IMS 1270 est équipé d'une source d'ions bi-mode intégrée qui peut générer des ions secondaires positifs ou négatifs à partir de l'échantillon. Ceci permet à l'instrument d'analyser des éléments jusqu'au poids atomique 2 et des isotopes avec une concentration de 0,1 %. La source d'ions possède également une coupe Faraday intégrée pour les mesures de l'abondance des isotopes. La conception de l'instrument permet également une imagerie non destructive à haute résolution des éléments majeurs et mineurs de l'échantillon. Pour ce faire, on utilise à la fois un détecteur bidimensionnel et un détecteur tridimensionnel. Le détecteur bidimensionnel aide les utilisateurs à examiner avec précision la composition de surface d'un échantillon, tandis que le détecteur tridimensionnel est utilisé pour l'imagerie de profil de profondeur. La conception augmentée de CAMECA IMS 1270 fournit une résolution de masse allant jusqu'à 1200 à la masse unitaire et une gamme de masse allant jusqu'à 600 amu. L'instrument est équipé d'un système de cible de diffusion qui est conçu pour contrôler l'angle de pénétration, de sorte que des profils de profondeur très fiables peuvent être générés. L'instrument utilise des logiciels basés sur des fenêtres pour l'acquisition de données, le contrôle des spectromètres de masse et l'imagerie élémentaire dynamique et l'analyse des échantillons. Le logiciel permet également aux utilisateurs d'accéder à d'autres fonctionnalités telles que les instabilités cinétiques, le déclenchement, l'analyse statistique, les calculs à la volée et l'horloge. Dans l'ensemble, IMS 1270 est un spectromètre de masse d'ions secondaires polyvalent et performant conçu pour être utilisé dans l'analyse élémentaire et isotopique à la fois dans la recherche et dans les applications industrielles. Cet instrument est capable de produire une imagerie haute résolution des éléments majeurs et mineurs dans les échantillons, ce qui donne une plus grande précision et des résultats plus fiables que la plupart des autres spectromètres SIMS sur le marché.