Occasion CAMECA IMS 4F / 5F #293799336 à vendre en France

CAMECA IMS 4F/ 5F est un spectromètre de masse ionique secondaire (SIMS) de pointe qui fournit une grande précision et sensibilité pour analyser la composition élémentaire et isotopique des échantillons solides. Cet instrument d'analyse de pointe est conçu pour un large éventail d'applications dans la science des matériaux, la géologie, la science de l'environnement et la recherche sur les semi-conducteurs. IMS 4F/ 5F combine un analyseur de masse à haute résolution du secteur magnétique et un analyseur électrostatique à haute transmission pour obtenir des performances supérieures en termes de résolution de masse, de précision de masse et de sensibilité de détection. L'instrument est capable d'analyser un large éventail d'éléments allant d'éléments légers tels que l'hydrogène et le lithium à des éléments lourds tels que l'uranium et le plutonium. Une des caractéristiques clés de CAMECA IMS 4F/ 5F est sa capacité à analyser la composition isotopique avec une extrême précision. Ceci est obtenu par l'utilisation d'un faisceau d'ions primaires de haute énergie qui pulvérise des atomes de la surface de l'échantillon, générant des ions secondaires qui sont ensuite analysés par le spectromètre de masse. En mesurant les abondances relatives de différents isotopes d'un élément, IMS 4F/ 5F peut fournir des indications sur l'histoire et l'origine d'un échantillon. CAMECA IMS 4F/ 5F est équipé de capacités avancées d'automatisation et de traitement des données, permettant une analyse à haut débit de plusieurs échantillons avec une intervention minimale de l'utilisateur. L'instrument peut analyser des échantillons sous diverses formes, y compris des films minces, des matériaux en vrac et des nanoparticules, ce qui le rend très polyvalent pour différentes applications de recherche. En plus de l'analyse élémentaire et isotopique, IMS 4F/ 5F peut également fournir des informations sur la distribution spatiale des éléments au sein d'un échantillon. En traçant le faisceau d'ions primaire à travers la surface de l'échantillon, l'instrument peut générer des images élémentaires à haute résolution qui révèlent la distribution de différents éléments avec une résolution spatiale sous-micron. CAMECA IMS 4F/ 5F est également équipé d'une gamme de sources d'ions et de modes d'analyse qui permettent une analyse polyvalente de différents types d'échantillons. Par exemple, l'instrument peut effectuer un profilage de profondeur pour étudier la répartition des éléments en fonction de la profondeur dans un matériau, ou il peut analyser des oligo-éléments à haute sensibilité pour des applications environnementales et géologiques. Dans l'ensemble, IMS 4F/ 5F est un spectromètre de masse ionique secondaire de pointe qui offre des performances inégalées en termes de précision, de sensibilité et de polyvalence pour l'analyse élémentaire et isotopique des échantillons solides. Avec ses capacités analytiques avancées et ses fonctionnalités d'automatisation, CAMECA IMS 4F/ 5F est un outil précieux pour les chercheurs et les scientifiques travaillant dans un large éventail de domaines, y compris la science des matériaux, la géologie, la science de l'environnement et la recherche sur les semi-conducteurs.