Occasion CAMECA IMS 4F #293769036 à vendre en France

CAMECA IMS 4F est un spectromètre de masse d'ions secondaires (SIMS) robuste et polyvalent conçu pour le profilage de profondeur haute résolution et une large gamme d'analyses isotopiques élémentaires. Il se compose d'une source d'ions de forte puissance, d'une chambre de pulvérisation/gravure d'échantillons, d'un analyseur de masse et d'un détecteur. CAMECA IMS4F dispose de deux sources ioniques standard différentes, une source Cs + de haute intensité et une source ionique secondaire Ga + ou Au +. Selon l'application, la source appropriée peut être choisie pour fournir le rendement ionique, la résolution massique et les débits de pulvérisation désirés. La chambre de pulvérisation/gravure de l'échantillon est équipée d'une sonde de pulvérisation en diamant ou en SiC et d'un porte-anode. Une unité rotative de pulvérisation permet une rotation variable de l'échantillon pour une pulvérisation efficace. La chambre contient une source d'implantation à faible énergie, permettant un profilage en profondeur des échantillons avec une très grande précision. L'analyseur de masse de IMS-4F est un instrument à double focalisation de l'heure de vol qui fournit une gamme dynamique et une résolution élevées. Le produit de sensibilité à la résolution de masse (SRM), qui est une mesure de la résolution de masse, peut être mis en place jusqu'en 2000. Le détecteur de CAMECA IMS-4 F est soit une tasse de Faraday, soit un détecteur de plaques multi-canaux (MCP). La coupe Faraday est un choix bien adapté pour détecter les ions de masse moyenne, tandis que le détecteur MCP est mieux pour détecter les ions de masse inférieure. Le MCP améliore également la dynamique et la résolution de masse en éliminant les ions de fond de la chaîne de détection. CAMECA IMS-4F est alimenté par un logiciel performant qui contrôle tous les composants pour une acquisition et une analyse optimales des données. Cela permet facilement l'analyse à grande vitesse, les scans ponctuels, l'imagerie et le profilage multi-profondeur. En conclusion, IMS 4F est un spectromètre de masse d'ions secondaires très robuste et polyvalent qui fournit une haute résolution et une large gamme d'analyses isotopiques élémentaires pour les échantillons de surface et de masse. Sa flexibilité, associée à ses fonctionnalités conviviales, font de cet instrument un choix idéal pour une variété d'applications.