Occasion CAMECA IMS 4F #9210239 à vendre en France

CAMECA IMS 4F est un spectromètre de masse ionique secondaire (SIMS) conçu pour analyser la composition des surfaces et des couches minces jusqu'à 100 nanomètres. Il est équipé d'une source d'ions sans champ de 2,5 kilovolts (kV), d'un séparateur de masse à 4 détecteurs et d'une chambre d'échantillonnage conçue pour faciliter l'analyse des échantillons sous ultra-vide. La source d'ions sans champ 2.5kV utilise un système de collimation lumineuse pour focaliser les ions d'imagerie scannés et obtenir une distribution quasi parfaite des faisceaux d'ions focalisés. Ceci permet une imagerie haute résolution avec une précision d'environ 1 nanomètre. La source d'ions est constituée de quatre électrodes de focalisation qui peuvent être ajustées individuellement pour faire varier la zone de balayage et la résolution. Le séparateur de masse à quatre détecteurs comprend deux aimants, deux barres quadrupolaires et une paire de plaques de champ combinées. Cette combinaison de composants est capable de mesurer avec précision les rapports masse/charge des ions extraits de l'échantillon. Le signal de chacun des quatre détecteurs est mesuré indépendamment et le signal combiné est converti en nombre total d'ions pour chaque plage masse-charge. La chambre d'échantillonnage, conçue pour les conditions d'ultra-vide, peut accueillir une grande variété de types d'échantillons et de géométries et est bien adaptée à l'analyse de la composition des surfaces et des couches minces. Pour les analyses d'imagerie, la chambre d'échantillonnage est montée sur un étage tridimensionnel motorisé. Cela permet un large éventail de manipulations et de manipulations d'échantillons, y compris la capacité de scanner de grandes zones de l'échantillon rapidement et avec précision. L'étape d'échantillonnage est contrôlée par un logiciel intégré, qui peut contrôler la rotation, l'inclinaison et la focalisation de l'échantillon. CAMECA IMS4F est capable d'effectuer diverses analyses, y compris le profilage de profondeur, les analyses isotopiques, l'imagerie ionique secondaire et l'analyse de la composition de surface. Cette puissante combinaison de capacités permet à l'utilisateur de mesurer avec précision la composition des surfaces et des couches minces de manière économique et fiable.