Occasion CAMECA IMS 5F #293652624 à vendre en France

CAMECA IMS 5F est un outil d'analyse unique et puissant basé sur la technique de spectrométrie de masse ionique secondaire (SIMS), capable d'étudier des surfaces, des interfaces et des couches minces avec un haut degré de résolution dimensionnelle et chimique. IMS 5F permet l'analyse de la composition élémentaire de surface, l'imagerie 3D quantitative des caractéristiques topographiques de surface et l'imagerie élémentaire et isotopique avec une gamme de rapports isotopiques et de limites de détection impossibles à atteindre avec d'autres techniques. La performance de l'instrument est encore améliorée par sa source d'ion primaire brevetée Cs $ ^ + $, dont la combinaison rend CAMECA IMS 5F idéal pour une gamme d'applications d'analyse de matériaux, telles que l'analyse des oligo-éléments des matériaux, la topographie et la caractérisation du profilage de profondeur. Grâce à un logiciel d'acquisition et d'analyse de données spécialement conçu, IMS 5F peut identifier et quantifier la composition élémentaire et isotopique des échantillons organiques et inorganiques dans une gamme d'échelles de composition. En raison de sa haute résolution de masse et de ses limites de détection, CAMECA IMS 5F est capable de fournir une analyse élémentaire et isotopique qualitative et quantitative jusqu'au niveau subatomique. En utilisant un faisceau d'ions de primaire Cs $ ^ + $, IMS 5F est capable de profiler en profondeur sur des échantillons d'une épaisseur maximale de 150 nm et une couverture de surface jusqu'à 170 millions Å $ ^ 2 $. CAMECA IMS 5F a l'avantage supplémentaire de fonctionner avec un courant de faisceau primaire variable, donnant aux utilisateurs la possibilité de choisir parmi une sélection de courants de faisceau d'ions, allant de 0,05 pA à 3500 pA. Cette fonctionnalité permet à l'utilisateur d'échantillonner avec une gamme de profondeurs dynamiques et de résolutions latérales. IMS 5F offre également la cartographie d'images à haute sensibilité avec des résolutions latérales jusqu'à 1nm et jusqu'à 4,8 mm $ ^ 2 $ dans la zone. La gamme dynamique de l'imagerie CAMECA IMS 5F va de faibles niveaux de ppm jusqu'à plusieurs pourcentages de poids de l'élément déclaré. La combinaison de ses capacités d'analyse élémentaire et isotopique, avec l'imagerie haute résolution et le profilage de profondeur signifie que IMS 5F est bien adapté à une variété d'applications importantes, y compris, mais sans s'y limiter : Imagerie 3D des surfaces et des caractéristiques, analyse des matériaux, analyse nanométrique, analyse du dopage électronique, études de profilage de profondeur et de contamination, analyse des semi-conducteurs et de la céramique, analyse de la composition et validation des matériaux.