Occasion CAMECA IMS 7F #9226870 à vendre en France

CAMECA IMS 7F est un spectromètre multi-collecteurs haute performance conçu pour l'analyse isotopique et élémentaire d'échantillons solides. Cet instrument utilise un faisceau primaire focalisé d'ions produit par une source d'ions à haute tension et un puissant spectromètre pour mesurer la masse des ions secondaires et les abondances isotopiques. IMS 7F utilise un analyseur magnétique statique 7 secteurs - une combinaison innovante de sept détecteurs d'électrons secondaires de haute sensibilité, de haute précision et/ou d'ions avec des éléments d'entraînement actifs. Cela crée une large gamme d'énergie avec une collection haute résolution et une sensibilité, et une puissance de résolution allant jusqu'à 150 000 à une acceptation de 30 mm. Il dispose également de deux systèmes de balayage par laser pour un positionnement précis des particules, permettant un profilage précis et efficace. CAMECA IMS 7F est équipé d'un système de correction physique automatique qui corrige les effets de frappe du faisceau primaire. Ses puissantes capacités de traitement d'image permettent une acquisition rapide de données et des rapports signal/bruit optimisés. Une interface graphique conviviale facilite la configuration et le fonctionnement. En outre, IMS 7F comprend un système électronique de position du faisceau amplificateur-signal qui permet des mesures de sous-microns à plusieurs centaines de microns de taille. Ceci est réalisé en changeant la position du faisceau selon le type d'échantillon et la résolution souhaitée. Un large éventail de sources d'ions pulvérisateurs offre la possibilité d'une analyse à faible angle et d'une mesure à angle élevé pour un large éventail de techniques d'évaluation. Enfin, CAMECA IMS 7F est capable d'analyser des taches analytiques uniques ou une cartographie élémentaire complète. Il a également la capacité de déterminer le mélange isotopique à échelle fine et les distributions irrégulières. Ce spectromètre compact et polyvalent offre des performances de pointe pour la caractérisation des échantillons solides à l'échelle du nanomètre.