Occasion CAMECA NanoSIMS 50 #293703397 à vendre en France

Le spectromètre de masse ionique secondaire avancé (SIMS) CAMECA SIMS 50 a été conçu pour soutenir un large éventail d'applications de recherche. Ce dispositif offre des capacités de profilage de profondeur haute résolution et d'imagerie latérale pour l'analyse d'échantillons moderne. La taille compacte de ce dispositif le rend idéal pour les laboratoires avec un espace limité et une gamme d'applications nécessitant un contrôle amélioré des échantillons. Le Nfor SIMS 50 utilise la technologie SIMS classique avec analyse simultanée de jusqu'à 4 ions primaires dirigés vers un échantillon solide. Sa résolution spatiale fournit des profils de profondeur haute résolution et hautement fonctionnels qui peuvent couvrir jusqu'à quelques micromètres dans l'axe des z avec une conception améliorée de l'électrode. La technique SIMS offre des résolutions analytiques à haute résolution entre 0,2 et 1 nm, permettant d'obtenir des informations de concentration élémentaire exigeantes à partir du profil de profondeur de l'échantillon. Les images simultanées de profondeur et de profil latéral permettent de mieux comprendre la composition chimique de surface et de masse de l'échantillon analysé. Afin d'assurer une performance et une flexibilité optimales, le CAMECA Nérabilité SIMS 50 est équipé d'une gamme de fonctionnalités avancées, dont une technologie HVOP ultra-rapide et un contrôle automatique du gain amélioré (AGC) pour des résultats améliorés et plus cohérents. De plus, le dispositif est configuré pour l'imagerie à haut flux qui permet aux utilisateurs de mesurer plusieurs points d'information pour aider à déduire des distributions élémentaires sur tout un matériau ou échantillon. Sa source DualBeam™ permet l'imagerie simultanée et la modification de profondeur avec le même faisceau ionique primaire pour une utilisation optimisée de la technique SIMS. De plus, Nthat SIMS 50 offre aux utilisateurs une gamme de paramètres de fonctionnement en profondeur dans son progiciel qui permet la communication avec le logiciel, le fonctionnement de ses systèmes d'analyse et le contrôle du faisceau d'ions primaire. En outre, l'appareil dispose d'un ensemble de porte-échantillons de haute qualité et de précision qui sont interchangeables et peuvent être utilisés pour une large gamme d'échantillons. Léger et économique, le CAMECA Navut SIMS 50 est un outil d'analyse efficace et fiable pour une variété d'industries et offre aux utilisateurs la capacité de mesurer et d'analyser la composition chimique avec une grande précision.