Occasion CAMECA SX-100 #293773834 à vendre en France
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ID: 293773834
Electron microprobe
Beam current range: 5x10-7 to 10-12 A
Beam position: ± 0.5 µm in 1 hour at 10 kV
Beam current variation:
± 0.5 % in one hour
± 1 % in 12 hours
Accelerating voltage: 0.2 to 30 kV
Secondary Electron Detection and Imaging (SEM)
Energy Dispersive Spectrometry (EDS)
Backscattered electron detector
Wavelength dispersive X-rays spectrometer
Light optics
Vacuum system
CL Detector
Plasma cleaner.
CAMECA SX-100 est un spectromètre avancé conçu pour la caractérisation de surface à haute résolution et l'analyse élémentaire. Il est fabriqué par CAMECA, un fournisseur leader d'instruments d'analyse pour la recherche et les applications industrielles. CAMECA SX 100 intègre des technologies de pointe pour fournir des performances et une précision supérieures dans l'analyse de la composition élémentaire et de la structure des matériaux aux niveaux micro et nano-échelle. Au cœur de SX-100 se trouve un système de microanalyseur à sonde électronique haute performance (EPMA) qui utilise un faisceau d'électrons focalisés pour exciter la surface de l'échantillon et générer des rayons X caractéristiques. Ces rayons X sont ensuite détectés et analysés pour déterminer la composition élémentaire de l'échantillon. SX 100 est équipé de plusieurs détecteurs, y compris des spectromètres dispersifs de longueur d'onde (WDS) et des spectromètres dispersifs d'énergie (EDS), pour permettre une analyse précise et simultanée d'une large gamme d'éléments. Une des caractéristiques clés de CAMECA SX-100 est sa résolution spatiale exceptionnelle, qui permet aux utilisateurs d'étudier des échantillons avec une précision de sous-microns. L'instrument est équipé d'un étage de haute précision qui peut positionner l'échantillon avec une précision de niveau nanométrique, permettant une cartographie détaillée et l'imagerie des distributions élémentaires sur la surface de l'échantillon. Cette capacité est particulièrement précieuse dans des domaines de recherche tels que la science des matériaux, la géologie et l'analyse des semi-conducteurs, où la caractérisation des microstructures et des oligo-éléments est cruciale. CAMECA SX 100 offre un large éventail de modes d'analyse et de fonctionnalités pour répondre à divers besoins de recherche. Il prend en charge la cartographie automatisée et les capacités de balayage des lignes pour une collecte de données rapide et efficace, ainsi que des outils d'analyse quantitative avancés pour une quantification élémentaire précise. L'instrument comprend également des logiciels sophistiqués de traitement et de visualisation des données qui permettent aux utilisateurs d'interpréter et de présenter leurs résultats de manière claire et informative. En plus de ses prouesses analytiques, SX-100 est conçu pour la facilité d'utilisation et la fiabilité. L'instrument est équipé d'interfaces utilisateur intuitives et de contrôles logiciels qui simplifient le flux de travail expérimental et minimisent l'erreur de l'opérateur. Sa construction robuste et ses composants de haute qualité garantissent des performances stables et reproductibles sur de longues périodes de fonctionnement, ce qui en fait un outil idéal tant pour les laboratoires de recherche que pour les paramètres industriels de contrôle de la qualité. Dans l'ensemble, SX 100 représente une solution de pointe pour l'analyse de surface haute résolution et la caractérisation élémentaire. Avec ses capacités avancées, ses performances supérieures et sa conception conviviale, CAMECA SX-100 est un outil polyvalent et puissant pour une large gamme d'applications analytiques. Qu'il s'agisse d'étudier des échantillons géologiques, d'étudier des matériaux semi-conducteurs ou d'effectuer des inspections de contrôle de la qualité, les chercheurs et les professionnels de l'industrie peuvent compter sur CAMECA SX 100 pour obtenir des résultats précis et perspicaces qui favorisent la découverte scientifique et l'innovation technologique.
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