Occasion CAMECA TOF-SIMS IV #293587143 à vendre en France

CAMECA TOF-SIMS IV est un spectromètre avancé conçu pour permettre aux chercheurs de mesurer les interactions entre les atomes d'échantillons et les électrons, fournissant des informations utiles pour diverses tâches analytiques. Comme son nom l'indique, il fonctionne avec la technique TOF-SIMS (Time Of-Flight Secondary Ion Mass Spectromtry) qui permet de mesurer des éléments transitoires et des oligo-éléments présents dans une surface d'échantillon sous forme ionique. Cet instrument intègre un choix de sources d'analyse de haute densité d'énergie, avec son système de lentilles acoustiques ioniques statiques à haute énergie. Cela permet un étalonnage rapide et précis du détecteur TOF pour répondre aux besoins analytiques de chaque expérience. Cette configuration offre une combinaison optimale de comptages ioniques et de précision de masse, permettant aux chercheurs d'acquérir des spectres de masse avec une large gamme dynamique, dans une variété de délais. Ceci est obtenu grâce à la conception à trois anodes de l'instrument, qui sélectionne de façon impartiale les ions de l'échantillon et les envoie à un détecteur de temps de vol monté au-dessus de la zone de l'échantillon. Le TOF-SIMS IV est également conçu pour réduire les contaminations environnementales, tant celles inhérentes à l'instrument que celles provenant de l'environnement ambiant, grâce à son compartiment d'échantillonnage thermiquement et sous vide. Cela empêche l'échantillon de devenir homogène à l'air ou d'être exposé à des interactions mutuelles avec des éléments de l'environnement. L'instrument peut également être équipé d'une sonde de surface pour l'imagerie et la cartographie des échantillons, ce qui permet de recueillir des informations pratiques sur la composition et la morphologie de l'échantillon. CAMECA TOF-SIMS IV est capable de cartographier jusqu'à une résolution de 1 micron, fournissant à l'utilisateur un examen précis et détaillé des caractéristiques physiques de l'échantillon. L'instrument est très modulaire et peut être facilement adapté aux exigences d'une expérience, donnant à l'utilisateur un contrôle complet sur TOF-SIMS IV. L'interface logicielle associée à l'instrument fournit une interface pratique et facile à utiliser pour contrôler le spectromètre de masse et pour visualiser et analyser les spectres acquis. Cela aide les chercheurs à identifier rapidement la composition isotopique et élémentaire des matériaux et à détecter les impuretés ou les changements de composition chimique. CAMECA TOF-SIMS IV est devenu un outil préféré des chercheurs en raison de sa robustesse et de sa capacité à fournir des résultats exacts. Il est largement utilisé dans des domaines tels que l'ingénierie de surface, la science des matériaux, les sciences de la vie, la microélectronique et l'industrie des semi-conducteurs, et la catalyse, pour n'en citer que quelques-uns. Tous ces avantages font de TOF-SIMS IV un moyen exceptionnel d'analyser et de recueillir des informations précises et rapides sur des surfaces complexes.