Occasion ELVATECH ElvaX #9042420 à vendre en France
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ID: 9042420
Energy Dispersive X-ray Fluorescence, EDXRF, Spectrometer
For testing of material in compliance with RoHS & WEEE Directives
Non-destructive elemental analysis of precious and non-precious metals, liquids and powders
Detection range of Cl(17)-Pu(94)
Detector resolution is 185 eV at 5.9 keV (Mn Ka line)
Accurate to <0.3% for metal alloys
Detection threshold below 1 ppm for most elements
Windows XP compantible
ElvaX-Light:
Capable of measuring down to Na(11)
Does not require operation under vacuum (He Purge System)
Available with (8) position multiple sample carousel.
ELVATECH ElatérX est un spectromètre conçu pour effectuer une analyse élémentaire de matériaux inconnus. Il comporte une source de rayons X et un détecteur Si (Li) qui génèrent des données sur la composition de l'élément dans un échantillon. L'ElétiX peut fournir des informations précieuses telles que la concentration et la surface des différents éléments présents dans un échantillon, en plus de la quantité de choc ou de stress qui affecte le composant. La spectroscopie ELVATECH-X utilise à la fois la spectroscopie des rayons X à dispersion de longueur d'onde (WDX) et la spectroscopie des rayons X à dispersion d'énergie (EDX). La spectroscopie WDX est utilisée pour la détermination plus précise d'un spectre de rayons X avec une résolution supérieure à 0,001 nm. En utilisant la loi de réflexion de Bragg, il est possible de détecter des nombres atomiques précis et des concentrations d'éléments dans l'échantillon. EDX mesure l'intensité du flux de rayons X dans une gamme d'énergie donnée. En divisant les échantillons en petits pixels, EDX peut mesurer la présence d'éléments et leurs nombres et concentrations atomiques. EDX est utile pour déterminer les formulations multi-éléments et les mesures des échantillons non conducteurs. En plus du spectromètre, Elvatech X dispose d'une interface intégrée conçue pour permettre aux chercheurs d'accéder et d'analyser les données de spectrométrie de rayons X recueillies par ELVATECH. Avec près de 14 spectromètres compatibles, les chercheurs peuvent facilement évaluer les résultats de l'analyse élémentaire et gérer leur flux de travail pour gagner du temps. Elle est équipée d'un plateau de spécimen scellé de 18 positions et d'un puissant mouvement de dessin motorisé. Le plateau d'échantillons peut être chargé avec une grande variété de spécimens, y compris des spécimens standard, des radiographies, et même de grands spécimens. Cela garantit que le bon échantillon est étudié avec une grande précision. ELVATECH ElatérX est également conçu pour être convivial. Il dispose de contrôles intuitifs, de temps d'échauffement courts et de pièces durables pour une utilisation à long terme. Un menu intégré permet une sélection facile des paramètres, et il dispose d'un écran LCD pour guider l'utilisateur à travers le processus de configuration. En outre, Elérabilité X est livré avec une bibliothèque complète de données pour aider l'utilisateur à interpréter leurs résultats d'analyse. Dans l'ensemble, ELVATECH est un puissant spectromètre adapté à diverses tâches d'analyse élémentaire. Il est idéal pour les laboratoires, les installations de recherche ou les écoles qui nécessitent des capacités de spectrométrie X avancées.
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