Occasion HITACHI HFS-3 #293667531 à vendre en France

HITACHI HFS-3 est un spectromètre haute performance FT-IR bien adapté à une utilisation courante en laboratoire. Il dispose d'un certain nombre de fonctionnalités avancées, fournissant un certain nombre d'options pour des mesures d'échantillons à haute sensibilité. Le spectromètre a un interféromètre avec des miroirs diélectriques, une résolution de 0,5 cm-1, et une gamme spectrale de 6 500 - 350 cm-1. HFS-3 utilise un système de balayage à haute résolution, permettant à l'utilisateur d'acquérir jusqu'à 32 balayages à une vitesse maximale de 6 000 balayages par minute. Le spectromètre est équipé d'un certain nombre de fonctions d'analyse qualitative et quantitative, y compris la capacité multi-canaux et la recherche de pics. Le spectromètre est également livré avec un système intégré de traitement de données avec le logiciel Windows XP, permettant une analyse facile et efficace des données du spectromètre. Le compartiment de l'échantillon est équipé d'un mécanisme de déplacement automatisé pour l'analyse de l'échantillon. La tête de mesure peut être configurée pour les échantillons solides et liquides et fonctionne avec précision et vitesse. Le spectromètre est également équipé d'une option de fenêtre multicanal motorisée, qui permet aux utilisateurs de sélectionner les régions de longueur d'onde à analyser. Ceci améliore la précision des détections de crête et augmente encore la sensibilité du spectromètre. HITACHI HFS-3 comprend également plusieurs fonctionnalités intégrées pour l'analyse quantitative. Il est livré avec un système d'analyse de référence pour les mesures d'absorption et de transmittance. L'analyse indépendante de la référence comporte une sélection automatique d'échantillons de référence et une plage linéaire de profondeur linéaire dans l'analyse de routine. Il est également équipé d'une fonction autoshutter pour éviter les erreurs d'opérateur dans la mesure de référence. De plus, le spectromètre a une fonction de recherche de crête intégrée pour déterminer la position de crête exacte dans les situations de balayage rapide. HFS-3 est compact et convient à une variété d'applications, y compris l'analyse micro- et nanométrique, les mesures de lignes d'assemblage, le contrôle de la qualité, et plus encore. Son logiciel intégré et ses fonctions de positionnement automatisé des échantillons le rendent pratique à utiliser et nécessite une attention minimale de la part de l'utilisateur. De plus, sa longueur d'onde et sa résolution supérieures le rendent adapté à diverses applications.