Occasion ION TOF TOF SIMS IV #9243595 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
![Loading](/img/loader.gif)
Vendu
ID: 9243595
Style Vintage: 1999
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS)
Bi Cluster ion gun
Ga Liquid Metal Ion (LMI) gun
Cs Ion gun
Gun for gases
INFICON Quadrex 200 Residual gas analyzer
Imaging camera
Microscope
1999 vintage.
Un ION TOF TOF SIMS IV (Secondary Ion Mass Spectrometer) est une forme avancée de spectrométrie de masse qui combine plusieurs technologies différentes pour une caractérisation moléculaire extrêmement précise et précise. Cet instrument permet des mesures très précises et sensibles des valeurs masse-charge (m/z) des ions, ainsi que de leurs compositions isotopiques. Le TOF ION TOF TOF-SIMS IV utilise une source d'ions pour ioniser un échantillon, soit en le bombardant d'électrons, de lumière laser ou de réactions chimiques en phase gazeuse. Ces ions traversent un champ électrique puis sont accélérés dans une chambre de temps de vol (TOF). Les ions sont ensuite séparés en fonction de leurs masses et dirigés vers le détecteur. Le spectromètre TOF TOF SIMS IV est équipé d'un analyseur de temps de vol (TOF) qui mesure le temps de vol de chaque ion, permettant ainsi à l'utilisateur de déterminer le rapport masse/charge de l'ion. Cet analyseur permet également de déterminer la composition isotopique et élémentaire de l'échantillon. De plus, l'instrument est équipé d'un détecteur d'ions pour fournir des informations sur le nombre d'ions dans l'échantillon. TOF-SIMS IV est un outil avancé d'analyse de surface capable de mesurer la composition ionique des surfaces à haute résolution. Il peut détecter et analyser de très petites particules de matière, même jusqu'au niveau atomique. En plus de ses capacités d'analyse de surface, il est également utilisé pour l'analyse inorganique et organique, ainsi que pour des applications dans la découverte de médicaments et le diagnostic médical. ION TOF TOF SIMS IV peut analyser des particules de différentes tailles d'échantillons, y compris de nanogrammes à milligrammes. Il est également capable de mesurer les rapports isotopiques avec jusqu'à 10 décimales de précision, ce qui en fait un outil inestimable pour les chercheurs qui étudient la géochimie des isotopes. Dans l'ensemble, ION TOF TOF-SIMS IV est un spectromètre de masse polyvalent et robuste avec une large gamme d'applications dans de nombreux domaines différents. Sa capacité à effectuer des mesures précises et précises est inestimable pour les scientifiques qui étudient une variété de matériaux, des particules à l'échelle nanométrique aux acides et aux solides à l'échelle macroscalaire. Il constitue également un outil puissant pour les chercheurs en matière de découverte de médicaments et de diagnostic médical, leur permettant de mieux comprendre la composition de divers composés.
Il n'y a pas encore de critiques