Occasion JEOL JSX 3400R #189263 à vendre en France

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Fabricant
JEOL
Modèle
JSX 3400R
ID: 189263
Style Vintage: 2007
Energy dispersive fluorescent X-ray analyzer Element range: Na-U Sample size: Diameter 300mm x Hight 150mm X-ray bulb: Rh target, 5-50kV, 1mA, 50W, Replaced on 2012 Detector: Liquid Nitrogen cooling Si semiconductor detector Colimator: 1, 3, 7mm PC: Windows XP PC with LCD/Printer Software: RoHS analysis (plastic, metals, documentation), general analysis Option: Vacuum system: Yes, Rotary Pump unit include CCD camera: Yes, Light unit include Power: AC100V/15A Liquid Nitrogen: Volume 3L, 1L per day needed 2007 vintage.
JEOL JSX 3400R est un spectromètre à microscope électronique à balayage (SEM) qui intègre les dernières avancées technologiques pour fournir une capacité de collecte de données précise et à grande vitesse. Cet équipement offre une large gamme de fonctions analytiques, y compris la fluorescence X dispersive d'énergie (EDX) et la microscopie électronique à transmission (TEM). Pour mesurer les petites particules avec un faisceau d'électrons, JSX 3400R dispose d'un mécanisme de balayage avancé. Ce mécanisme assure une haute résolution avec une résolution en énergie de faisceau de 0.025eV. La lentille AE, couplée à la stabilisation automatisée du courant du faisceau, compense toute dérive de l'échantillon pendant le balayage. De plus, la technologie de contrôle environnemental permet au JSX 3400 de fonctionner dans un environnement contrôlé de température et d'humidité, ce qui améliore la précision des mesures. Ce système fournit également une variété de fonctions de traitement d'image, amplifiant et quantifiant les résultats avec des algorithmes avancés. Grâce à la fonction d'archivage des données, les utilisateurs peuvent stocker des images et traiter l'analyse dans leurs ordinateurs. En outre, le serveur intégré OIServer permet un transfert rapide de données du JSX vers n'importe où dans le monde. JEOL JSX 3400R offre également une gamme de fonctionnalités pour améliorer la précision et l'efficacité des mesures. Ces caractéristiques comprennent un microscope optique de grande puissance avec un manipulateur à 6 axes, un contrôleur d'étage iD périphérique, une unité EDS-SLD intégrée et un profilomètre optique bidimensionnel. JSX 3400R est un outil fiable et polyvalent pour les études spectrométriques. Ses caractéristiques avancées permettent une mesure précise des petites particules avec la plus grande précision. Les capacités avancées de traitement d'image de la machine permettent également aux utilisateurs d'affiner et de quantifier leur analyse. Avec sa puissante combinaison de design et de fonctionnalités, JEOL JSX 3400R offre aux chercheurs un outil précieux pour comprendre les matériaux à l'échelle nanométrique.
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